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一种半导体测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122135067.4
申请日：
2021-09-06
公开(公告)号：
CN215813172U
公开(公告)日：
2022-02-11
发明(设计)人：
焦宗凯
申请人：
申请人地址：
200120 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区丽正路1628号4幢2008室
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
G01R102
代理机构：
合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126
代理人：
刘冉
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-11 | 授权 | 授权 |