一种半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111241677.0

申请日：

2021-10-25

公开(公告)号：

CN113671358A

公开(公告)日：

2021-11-19

发明(设计)人：

张新峰曹吴昊

申请人：

申请人地址：

226500 江苏省南通市如皋市城南街道电信东一路6号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

合肥市都耒知识产权代理事务所(普通合伙) 34227

代理人：

何鑫鑫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211025
2021-11-19	公开	公开
2021-12-21	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试设备 [P].

尹侣智 ;

胡思强 ;

梁加林 .

中国专利 :CN117517913A ,2024-02-06

[2]

一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN211785921U ,2020-10-27

[3]

一种用于半导体测试设备机架 [P].

刘海 ;

张传青 ;

钱业伟 .

中国专利 :CN223426706U ,2025-10-10

[4]

一种半导体测试设备 [P].

何淑英 .

中国专利 :CN216525461U ,2022-05-13

[5]

一种半导体测试设备 [P].

李强 ;

李彦锋 ;

余文武 .

中国专利 :CN220752163U ,2024-04-09

[6]

一种半导体测试设备 [P].

印益波 .

中国专利 :CN208520960U ,2019-02-19

[7]

一种半导体测试设备 [P].

姚俊俊 ;

沈思情 ;

姚钉丁 ;

张俊宝 ;

陈猛 .

中国专利 :CN209156455U ,2019-07-26

[8]

一种半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN111830401A ,2020-10-27

[9]

一种半导体测试设备 [P].

颜伟雄 .

中国专利 :CN214122390U ,2021-09-03

[10]

一种半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

邓标华 ;

裴敬 ;

杜建 .

中国专利 :CN111308305A ,2020-06-19

← 1 2 3 4 5 →