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一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022003569.7
申请日
:
2020-09-14
公开(公告)号
:
CN211785921U
公开(公告)日
:
2020-10-27
发明(设计)人
:
曹锐
杜建
裴敬
邓标华
申请人
:
申请人地址
:
430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225
代理人
:
唐勇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-10-27
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体测试板制造方法及半导体测试板
[P].
梁锦练
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海杰赛科技有限公司
珠海杰赛科技有限公司
梁锦练
;
赵军辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海杰赛科技有限公司
珠海杰赛科技有限公司
赵军辉
;
刘江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海杰赛科技有限公司
珠海杰赛科技有限公司
刘江
;
黄德业
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海杰赛科技有限公司
珠海杰赛科技有限公司
黄德业
;
房鹏博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
珠海杰赛科技有限公司
珠海杰赛科技有限公司
房鹏博
.
中国专利
:CN121038148A
,2025-11-28
[2]
半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统
[P].
袁晓航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
袁晓航
;
杨钊辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
杨钊辉
;
吴炳龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
吴炳龙
;
胡刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡刚
;
胡松德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡松德
.
中国专利
:CN223022311U
,2025-06-24
[3]
半导体测试设备
[P].
尹侣智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市煜凡精密科技有限公司
东莞市煜凡精密科技有限公司
尹侣智
;
胡思强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市煜凡精密科技有限公司
东莞市煜凡精密科技有限公司
胡思强
;
梁加林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市煜凡精密科技有限公司
东莞市煜凡精密科技有限公司
梁加林
.
中国专利
:CN117517913A
,2024-02-06
[4]
半导体测试用测试板
[P].
伊藤大介
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
伊藤大介
;
中川博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中川博
;
伊东胜利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
伊东胜利
;
筱永直之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
筱永直之
;
仙波伸二
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
仙波伸二
.
中国专利
:CN1452231A
,2003-10-29
[5]
一种用于PCB板的半导体刀片针及半导体测试设备
[P].
邓明伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓明伟
.
中国专利
:CN214413352U
,2021-10-15
[6]
一种半导体测试板
[P].
秦依杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南通尚阳通集成电路有限公司
南通尚阳通集成电路有限公司
秦依杰
.
中国专利
:CN223308256U
,2025-09-05
[7]
电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备
[P].
陈林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈林
;
王林旺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
王林旺
;
刘恒甫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
;
何敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何敏
;
刘钟源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘钟源
.
中国专利
:CN119804956A
,2025-04-11
[8]
半导体测试设备
[P].
李相骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李相骏
;
李永吉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李永吉
.
中国专利
:CN103121012A
,2013-05-29
[9]
半导体测试设备
[P].
郑照荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑照荣
;
孙振坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙振坤
.
中国专利
:CN107799431A
,2018-03-13
[10]
半导体测试设备
[P].
卢春阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢春阳
;
庄建强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庄建强
.
中国专利
:CN208705243U
,2019-04-05
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