一种半导体测试板

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422721022.9

申请日：

2024-11-07

公开(公告)号：

CN223308256U

公开(公告)日：

2025-09-05

发明(设计)人：

秦依杰

申请人：

南通尚阳通集成电路有限公司

申请人地址：

226004 江苏省南通市崇川区市北高新路259号30号楼1幢1-3层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/26

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

邓超

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省南通市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体测试用测试板 [P].

卞荣剑 ;

段文军 ;

吉波 .

中国专利 :CN217278530U ,2022-08-23

[2]

半导体测试用测试板 [P].

伊藤大介 ;

中川博 ;

伊东胜利 ;

筱永直之 ;

仙波伸二 .

中国专利 :CN1452231A ,2003-10-29

[3]

一种半导体测试板 [P].

罗佳文 .

中国专利 :CN110286311A ,2019-09-27

[4]

一种半导体测试板 [P].

罗佳文 .

中国专利 :CN210427715U ,2020-04-28

[5]

一种半导体测试用测试板 [P].

翁晓升 .

中国专利 :CN209461416U ,2019-10-01

[6]

一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN211785921U ,2020-10-27

[7]

半导体测试用测试板 [P].

黄晓波 .

中国专利 :CN208156050U ,2018-11-27

[8]

半导体测试板制造方法及半导体测试板 [P].

梁锦练 ;

赵军辉 ;

刘江 ;

黄德业 ;

房鹏博 .

中国专利 :CN121038148A ,2025-11-28

[9]

一种半导体测试印制线路板 [P].

刘继承 ;

王玲玲 ;

翟翔 .

中国专利 :CN217238279U ,2022-08-19

[10]

一种半导体测试器件的测试板分割装置 [P].

唐培之 ;

唐连江 ;

杨志政 ;

莫文远 ;

陈畅雄 .

中国专利 :CN222521470U ,2025-02-25

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