一种半导体测试器件的测试板分割装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421263879.4

申请日：

2024-06-04

公开(公告)号：

CN222521470U

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

唐培之唐连江杨志政莫文远陈畅雄

申请人：

深圳市科达欣科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观湖街道樟溪社区下围工业区一路10号智谷A栋401

IPC主分类号：

B26D7/01

IPC分类号：

B26D7/00 B26D7/20 G01N1/28

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体测试器件的测试板分割装置 [P].

唐培之 ;

唐连江 ;

杨志政 ;

莫文远 ;

陈畅雄 .

中国专利 :CN118578456A ,2024-09-03

[2]

半导体测试器件的测试板分割装置 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN1225016C ,2003-06-04

[3]

一种半导体测试用测试板 [P].

卞荣剑 ;

段文军 ;

吉波 .

中国专利 :CN217278530U ,2022-08-23

[4]

一种半导体测试用测试板 [P].

翁晓升 .

中国专利 :CN209461416U ,2019-10-01

[5]

半导体测试用测试板 [P].

伊藤大介 ;

中川博 ;

伊东胜利 ;

筱永直之 ;

仙波伸二 .

中国专利 :CN1452231A ,2003-10-29

[6]

半导体测试用测试板 [P].

黄晓波 .

中国专利 :CN208156050U ,2018-11-27

[7]

一种半导体测试板 [P].

罗佳文 .

中国专利 :CN110286311A ,2019-09-27

[8]

一种半导体测试板 [P].

罗佳文 .

中国专利 :CN210427715U ,2020-04-28

[9]

一种半导体测试板 [P].

秦依杰 .

中国专利 :CN223308256U ,2025-09-05

[10]

半导体测试器件和操作半导体测试器件的方法 [P].

孙汉萍 ;

刘勇 ;

赵起越 .

中国专利 :CN118076897A ,2024-05-24

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