一种半导体测试用测试板

被引：0

申请号：

CN202221051284.3

申请日：

2022-05-05

公开(公告)号：

CN217278530U

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

卞荣剑段文军吉波

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区星湖街328号创意产业园

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3126 H05K720

代理机构：

杭州一串数字知识产权代理有限公司 33437

代理人：

徐晓琴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试用测试板 [P].

黄晓波 .

中国专利 :CN208156050U ,2018-11-27

[2]

一种半导体测试用测试板 [P].

翁晓升 .

中国专利 :CN209461416U ,2019-10-01

[3]

半导体测试用测试板 [P].

伊藤大介 ;

中川博 ;

伊东胜利 ;

筱永直之 ;

仙波伸二 .

中国专利 :CN1452231A ,2003-10-29

[4]

一种半导体测试用定位夹具 [P].

王鑫鑫 .

中国专利 :CN221818438U ,2024-10-11

[5]

一种半导体测试板 [P].

罗佳文 .

中国专利 :CN210427715U ,2020-04-28

[6]

一种半导体测试板 [P].

秦依杰 .

中国专利 :CN223308256U ,2025-09-05

[7]

一种半导体测试用底座 [P].

鲜益民 ;

唐馨 .

中国专利 :CN217052447U ,2022-07-26

[8]

一种半导体测试用支架 [P].

毛丹辉 ;

陈素亮 .

中国专利 :CN217305401U ,2022-08-26

[9]

一种半导体测试用底座 [P].

张凯川 .

中国专利 :CN222105511U ,2024-12-03

[10]

一种半导体测试用测试架 [P].

梁丙生 ;

刘镇岭 ;

严顺 ;

廖燕锋 .

中国专利 :CN115144625A ,2022-10-04

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