学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

一种半导体测试用测试架

被引：0
申请号：
CN202210788495.3
申请日：
2022-07-06
公开(公告)号：
CN115144625A
公开(公告)日：
2022-10-04
发明(设计)人：
梁丙生 刘镇岭 严顺 廖燕锋
申请人：
申请人地址：
510700 广东省广州市黄埔区瑞和路39号F1栋401-403房
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
济南宝宸专利代理事务所(普通合伙) 37297
代理人：
荆向勇
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-10-04 公开 公开
共 50 条
[1]
半导体封装测试用测试架 [P]. 
顾贤 ;
马继光 ;
李晨光 .
中国专利 :CN119069377B ,2025-05-13
[2]
半导体封装测试用测试架 [P]. 
徐业才 ;
王柳 .
中国专利 :CN119495589A ,2025-02-21
[3]
半导体封装测试用测试架 [P]. 
顾贤 ;
马继光 ;
李晨光 .
中国专利 :CN119069377A ,2024-12-03
[4]
半导体封装测试用测试架 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209894586U ,2020-01-03
[5]
一种半导体封装测试用测试架 [P]. 
范树平 ;
石明培 ;
鲁建明 .
中国专利 :CN213304095U ,2021-05-28
[6]
半导体测试用测试板 [P]. 
黄晓波 .
中国专利 :CN208156050U ,2018-11-27
[7]
半导体测试用测试板 [P]. 
伊藤大介 ;
中川博 ;
伊东胜利 ;
筱永直之 ;
仙波伸二 .
中国专利 :CN1452231A ,2003-10-29
[8]
一种半导体测试用测试板 [P]. 
卞荣剑 ;
段文军 ;
吉波 .
中国专利 :CN217278530U ,2022-08-23
[9]
一种半导体测试用测试板 [P]. 
翁晓升 .
中国专利 :CN209461416U ,2019-10-01
[10]
一种半导体测试用定位夹具 [P]. 
王鑫鑫 .
中国专利 :CN221818438U ,2024-10-11
12345