一种半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010962414.8

申请日：

2020-09-14

公开(公告)号：

CN111830401A

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

曹锐杜建裴敬邓标华

申请人：

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225

代理人：

唐勇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200914
2020-10-27	公开	公开
2020-12-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种可自动开关门的半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN211741503U ,2020-10-23

[2]

一种自动上下料的半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN211785946U ,2020-10-27

[3]

一种半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

邓标华 ;

裴敬 ;

杜建 .

中国专利 :CN111308305A ,2020-06-19

[4]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[5]

半导体测试设备及其供电方法 [P].

张熊镇 ;

田赫洙 .

韩国专利 :CN119448172A ,2025-02-14

[6]

一种半导体测试设备 [P].

何淑英 .

中国专利 :CN216525461U ,2022-05-13

[7]

一种半导体测试设备 [P].

李强 ;

李彦锋 ;

余文武 .

中国专利 :CN220752163U ,2024-04-09

[8]

一种半导体测试设备 [P].

张新峰 ;

曹吴昊 .

中国专利 :CN113671358A ,2021-11-19

[9]

一种半导体测试设备 [P].

印益波 .

中国专利 :CN208520960U ,2019-02-19

[10]

一种半导体测试设备 [P].

姚俊俊 ;

沈思情 ;

姚钉丁 ;

张俊宝 ;

陈猛 .

中国专利 :CN209156455U ,2019-07-26

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