一种自动上下料的半导体测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022003567.8

申请日：

2020-09-14

公开(公告)号：

CN211785946U

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

曹锐杜建裴敬邓标华

申请人：

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225

代理人：

唐勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种自动上下料的半导体测试设备 [P].

于章勇 ;

黄文龙 .

中国专利 :CN117983560A ,2024-05-07

[2]

一种自动上下料的半导体测试设备 [P].

于章勇 ;

黄文龙 .

中国专利 :CN117983560B ,2024-05-28

[3]

一种自动上下料的半导体测试设备 [P].

王阿林 .

中国专利 :CN221595164U ,2024-08-23

[4]

一种自动上下料的半导体测试分拣设备 [P].

许江锋 ;

刘汉武 ;

张瑶 ;

夏云 .

中国专利 :CN120714906A ,2025-09-30

[5]

一种半导体测试用自动上下料装置 [P].

曹佶 ;

陈铨辉 ;

刘余海 .

中国专利 :CN118323826A ,2024-07-12

[6]

一种半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN111830401A ,2020-10-27

[7]

自动上下料测试设备 [P].

丁鑫 .

中国专利 :CN115123815A ,2022-09-30

[8]

半导体器件自动上下料设备 [P].

张树凡 ;

朱水明 .

中国专利 :CN211895023U ,2020-11-10

[9]

一种可自动开关门的半导体测试设备 [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN211741503U ,2020-10-23

[10]

一种自动上下料的测试设备 [P].

陈远明 ;

张高华 ;

张书刚 .

中国专利 :CN221587110U ,2024-08-23

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