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一种半导体测试设备及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411500752.4
申请日：
2024-10-25
公开(公告)号：
CN119199453A
公开(公告)日：
2024-12-27
发明(设计)人：
李超
申请人：
普冉半导体（上海）股份有限公司
申请人地址：
201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区申江路5005弄1号9层整层（实际楼层8楼）
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
代理机构：
上海硕力知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31251
代理人：
童素珠
法律状态：
公开
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-27 | 公开 | 公开 |
| 2025-01-14 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241025 |