芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510835378.1

申请日：

2025-06-20

公开(公告)号：

CN120870806A

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

何敏王林旺陈林刘恒甫郑庆川

申请人：

深圳市辰卓科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

广东普润知识产权代理有限公司 44804

代理人：

胡明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	公开	公开
2025-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250620

共 50 条

[1]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[2]

开关复用的半导体测试设备及测试系统 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

李天平 .

中国专利 :CN223022312U ,2025-06-24

[3]

一种半导体测试设备及测试方法 [P].

李超 .

中国专利 :CN119199453A ,2024-12-27

[4]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[5]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[6]

信号传输方法、装置及半导体测试设备 [P].

林晓伟 ;

刘星 .

中国专利 :CN120711099A ,2025-09-26

[7]

半导体芯片测试方法及系统 [P].

周晓龙 ;

刘云峰 ;

陈雨杰 ;

杜海权 .

中国专利 :CN118858892B ,2025-08-22

[8]

半导体芯片测试方法及系统 [P].

周晓龙 ;

刘云峰 ;

陈雨杰 ;

杜海权 .

中国专利 :CN118858892A ,2024-10-29

[9]

高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P].

许应 ;

刘星 ;

戴蒙 .

中国专利 :CN120498612B ,2025-11-21

[10]

高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P].

许应 ;

刘星 ;

戴蒙 .

中国专利 :CN120498612A ,2025-08-15

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