高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510930305.0

申请日：

2025-07-07

公开(公告)号：

CN120498612B

公开(公告)日：

2025-11-21

发明(设计)人：

许应刘星戴蒙

申请人：

深圳市辰卓科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301

IPC主分类号：

H04L1/20

IPC分类号：

H04L43/0823 H04L43/16 H04L43/50 G01R31/26

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

张禹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04L 1/20申请日:20250707
2025-08-15	公开	公开
2025-11-21	授权	授权

共 50 条

[1]

高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P].

许应 ;

刘星 ;

戴蒙 .

中国专利 :CN120498612A ,2025-08-15

[2]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[3]

信号传输方法、装置及半导体测试设备 [P].

林晓伟 ;

刘星 .

中国专利 :CN120711099A ,2025-09-26

[4]

电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P].

陈林 ;

王林旺 ;

刘恒甫 ;

何敏 ;

刘钟源 .

中国专利 :CN119804956A ,2025-04-11

[5]

信号采集装置及半导体测试设备 [P].

王伟群 ;

任春茂 ;

谢亮 ;

黄广龙 ;

莫业军 ;

许培金 .

中国专利 :CN120629862A ,2025-09-12

[6]

信号采集装置及半导体测试设备 [P].

王伟群 ;

任春茂 ;

谢亮 ;

黄广龙 ;

莫业军 ;

许培金 .

中国专利 :CN120629862B ,2025-10-14

[7]

半导体测试设备 [P].

尹侣智 ;

胡思强 ;

梁加林 .

中国专利 :CN117517913A ,2024-02-06

[8]

芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备 [P].

何敏 ;

王林旺 ;

陈林 ;

刘恒甫 ;

郑庆川 .

中国专利 :CN120870806A ,2025-10-31

[9]

通用半导体高速串行信号自动测试方法 [P].

余琨 ;

张志勇 ;

王华 ;

祁建华 ;

罗斌 .

中国专利 :CN108989143A ,2018-12-11

[10]

基于图像的测试方法、图像获取系统及半导体测试设备 [P].

王林旺 ;

李洪 ;

黄俊锋 ;

鲁志兵 .

中国专利 :CN118450115A ,2024-08-06

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