信号采集装置及半导体测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511114954.X

申请日：

2025-08-11

公开(公告)号：

CN120629862A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

王伟群任春茂谢亮黄广龙莫业军许培金

申请人：

长川半导体（深圳）有限公司

申请人地址：

518172 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区宝龙六路1号创维群欣科技园一号厂房502

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/067 G01R1/073

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

高扬

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-12	公开	公开
2025-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20250811
2025-10-14	授权	授权

共 50 条

[1]

信号采集装置及半导体测试设备 [P].

王伟群 ;

任春茂 ;

谢亮 ;

黄广龙 ;

莫业军 ;

许培金 .

中国专利 :CN120629862B ,2025-10-14

[2]

图像采集方法、图像采集装置及半导体测试设备 [P].

柳承台 ;

李洪 ;

张颢哲 ;

何东承 ;

陈俊任 ;

黄俊锋 .

中国专利 :CN120044019A ,2025-05-27

[3]

信号传输方法、装置及半导体测试设备 [P].

林晓伟 ;

刘星 .

中国专利 :CN120711099A ,2025-09-26

[4]

高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P].

许应 ;

刘星 ;

戴蒙 .

中国专利 :CN120498612B ,2025-11-21

[5]

高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P].

许应 ;

刘星 ;

戴蒙 .

中国专利 :CN120498612A ,2025-08-15

[6]

半导体测试设备 [P].

尹侣智 ;

胡思强 ;

梁加林 .

中国专利 :CN117517913A ,2024-02-06

[7]

基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备 [P].

柳承台 ;

张颢哲 ;

何东承 ;

陈俊任 ;

黄俊锋 .

中国专利 :CN120434383B ,2025-11-21

[8]

基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备 [P].

柳承台 ;

张颢哲 ;

何东承 ;

陈俊任 ;

黄俊锋 .

中国专利 :CN120434383A ,2025-08-05

[9]

半导体测试数据传输方法、装置及半导体测试设备 [P].

马雪振 ;

林晓伟 ;

许应 ;

刘恒甫 .

中国专利 :CN120692207A ,2025-09-23

[10]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

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