基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510940904.0
申请日
2025-07-09
公开(公告)号
CN120434383B
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
柳承台 张颢哲 何东承 陈俊任 黄俊锋
申请人
深圳市辰卓科技股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301
IPC主分类号
H04N17/00
IPC分类号
H04N25/63 H04N25/68 H04N7/01 H04N5/04
代理机构
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人
张禹
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备 [P]. 
柳承台 ;
张颢哲 ;
何东承 ;
陈俊任 ;
黄俊锋 .
中国专利 :CN120434383A ,2025-08-05
[2]
图像采集方法、图像采集装置及半导体测试设备 [P]. 
柳承台 ;
李洪 ;
张颢哲 ;
何东承 ;
陈俊任 ;
黄俊锋 .
中国专利 :CN120044019A ,2025-05-27
[3]
基于图像的测试方法、图像获取系统及半导体测试设备 [P]. 
王林旺 ;
李洪 ;
黄俊锋 ;
鲁志兵 .
中国专利 :CN118450115A ,2024-08-06
[4]
信号采集装置及半导体测试设备 [P]. 
王伟群 ;
任春茂 ;
谢亮 ;
黄广龙 ;
莫业军 ;
许培金 .
中国专利 :CN120629862A ,2025-09-12
[5]
信号采集装置及半导体测试设备 [P]. 
王伟群 ;
任春茂 ;
谢亮 ;
黄广龙 ;
莫业军 ;
许培金 .
中国专利 :CN120629862B ,2025-10-14
[6]
信号传输方法、装置及半导体测试设备 [P]. 
林晓伟 ;
刘星 .
中国专利 :CN120711099A ,2025-09-26
[7]
芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备 [P]. 
何敏 ;
王林旺 ;
陈林 ;
刘恒甫 ;
郑庆川 .
中国专利 :CN120870806A ,2025-10-31
[8]
半导体测试数据传输方法、装置及半导体测试设备 [P]. 
马雪振 ;
林晓伟 ;
许应 ;
刘恒甫 .
中国专利 :CN120692207A ,2025-09-23
[9]
电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P]. 
陈林 ;
王林旺 ;
刘恒甫 ;
何敏 ;
刘钟源 .
中国专利 :CN119804956A ,2025-04-11
[10]
远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法 [P]. 
陈永 ;
邬刚 .
中国专利 :CN113078978A ,2021-07-06