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基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510940904.0
申请日
:
2025-07-09
公开(公告)号
:
CN120434383B
公开(公告)日
:
2025-11-21
发明(设计)人
:
柳承台
张颢哲
何东承
陈俊任
黄俊锋
申请人
:
深圳市辰卓科技股份有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301
IPC主分类号
:
H04N17/00
IPC分类号
:
H04N25/63
H04N25/68
H04N7/01
H04N5/04
代理机构
:
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人
:
张禹
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-22
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H04N 17/00申请日:20250709
2025-08-05
公开
公开
2025-11-21
授权
授权
共 50 条
[1]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备
[P].
柳承台
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
柳承台
;
张颢哲
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
张颢哲
;
何东承
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何东承
;
陈俊任
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈俊任
;
黄俊锋
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
黄俊锋
.
中国专利
:CN120434383A
,2025-08-05
[2]
图像采集方法、图像采集装置及半导体测试设备
[P].
柳承台
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
柳承台
;
李洪
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
李洪
;
张颢哲
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
张颢哲
;
何东承
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何东承
;
陈俊任
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈俊任
;
黄俊锋
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
黄俊锋
.
中国专利
:CN120044019A
,2025-05-27
[3]
基于图像的测试方法、图像获取系统及半导体测试设备
[P].
王林旺
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
王林旺
;
李洪
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
李洪
;
黄俊锋
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
黄俊锋
;
鲁志兵
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
鲁志兵
.
中国专利
:CN118450115A
,2024-08-06
[4]
信号采集装置及半导体测试设备
[P].
王伟群
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0
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
王伟群
;
任春茂
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
任春茂
;
谢亮
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
谢亮
;
黄广龙
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
黄广龙
;
莫业军
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
莫业军
;
许培金
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
许培金
.
中国专利
:CN120629862A
,2025-09-12
[5]
信号采集装置及半导体测试设备
[P].
王伟群
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
王伟群
;
任春茂
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
任春茂
;
谢亮
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
谢亮
;
黄广龙
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
黄广龙
;
莫业军
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
莫业军
;
许培金
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机构:
长川半导体(深圳)有限公司
长川半导体(深圳)有限公司
许培金
.
中国专利
:CN120629862B
,2025-10-14
[6]
信号传输方法、装置及半导体测试设备
[P].
林晓伟
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
林晓伟
;
刘星
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘星
.
中国专利
:CN120711099A
,2025-09-26
[7]
芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备
[P].
何敏
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何敏
;
王林旺
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
王林旺
;
陈林
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈林
;
刘恒甫
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
;
郑庆川
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0
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
郑庆川
.
中国专利
:CN120870806A
,2025-10-31
[8]
半导体测试数据传输方法、装置及半导体测试设备
[P].
马雪振
论文数:
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
马雪振
;
林晓伟
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
林晓伟
;
许应
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
许应
;
刘恒甫
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
.
中国专利
:CN120692207A
,2025-09-23
[9]
电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备
[P].
陈林
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈林
;
王林旺
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
王林旺
;
刘恒甫
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
;
何敏
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何敏
;
刘钟源
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘钟源
.
中国专利
:CN119804956A
,2025-04-11
[10]
远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法
[P].
陈永
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0
陈永
;
邬刚
论文数:
0
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0
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0
邬刚
.
中国专利
:CN113078978A
,2021-07-06
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