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远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110328086.0
申请日
:
2021-03-26
公开(公告)号
:
CN113078978A
公开(公告)日
:
2021-07-06
发明(设计)人
:
陈永
邬刚
申请人
:
申请人地址
:
311121 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室
IPC主分类号
:
H04J306
IPC分类号
:
H04L7033
代理机构
:
深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486
代理人
:
李兴生
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-06
公开
公开
2021-07-23
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04J 3/06 申请日:20210326
共 50 条
[1]
半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统
[P].
袁晓航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
袁晓航
;
杨钊辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
杨钊辉
;
吴炳龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
吴炳龙
;
胡刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡刚
;
胡松德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡松德
.
中国专利
:CN223022311U
,2025-06-24
[2]
芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备
[P].
何敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何敏
;
王林旺
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
王林旺
;
陈林
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈林
;
刘恒甫
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
;
郑庆川
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
郑庆川
.
中国专利
:CN120870806A
,2025-10-31
[3]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备
[P].
许应
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
许应
;
刘星
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘星
;
戴蒙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
戴蒙
.
中国专利
:CN120498612B
,2025-11-21
[4]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备
[P].
许应
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
许应
;
刘星
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘星
;
戴蒙
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
戴蒙
.
中国专利
:CN120498612A
,2025-08-15
[5]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备
[P].
柳承台
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
柳承台
;
张颢哲
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
张颢哲
;
何东承
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何东承
;
陈俊任
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈俊任
;
黄俊锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
黄俊锋
.
中国专利
:CN120434383A
,2025-08-05
[6]
数据处理方法、半导体测试板卡及半导体测试设备
[P].
周亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
周亮
;
刘军华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘军华
;
冯荣城
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
冯荣城
;
杨宗富
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
杨宗富
;
林威
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
林威
;
吴宇豪
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
吴宇豪
.
中国专利
:CN119946153A
,2025-05-06
[7]
电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备
[P].
陈林
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈林
;
王林旺
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
王林旺
;
刘恒甫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘恒甫
;
何敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何敏
;
刘钟源
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
刘钟源
.
中国专利
:CN119804956A
,2025-04-11
[8]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备
[P].
柳承台
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
柳承台
;
张颢哲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
张颢哲
;
何东承
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何东承
;
陈俊任
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈俊任
;
黄俊锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
黄俊锋
.
中国专利
:CN120434383B
,2025-11-21
[9]
半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统
[P].
张健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
通富微电子股份有限公司
通富微电子股份有限公司
张健
.
中国专利
:CN118655433A
,2024-09-17
[10]
一种半导体测试设备及测试方法
[P].
李超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
普冉半导体(上海)股份有限公司
普冉半导体(上海)股份有限公司
李超
.
中国专利
:CN119199453A
,2024-12-27
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