远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110328086.0
申请日
2021-03-26
公开(公告)号
CN113078978A
公开(公告)日
2021-07-06
发明(设计)人
陈永 邬刚
申请人
申请人地址
311121 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室
IPC主分类号
H04J306
IPC分类号
H04L7033
代理机构
深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486
代理人
李兴生
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P]. 
袁晓航 ;
杨钊辉 ;
吴炳龙 ;
胡刚 ;
胡松德 .
中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24
[2]
芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备 [P]. 
何敏 ;
王林旺 ;
陈林 ;
刘恒甫 ;
郑庆川 .
中国专利 :CN120870806A ,2025-10-31
[3]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P]. 
许应 ;
刘星 ;
戴蒙 .
中国专利 :CN120498612B ,2025-11-21
[4]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P]. 
许应 ;
刘星 ;
戴蒙 .
中国专利 :CN120498612A ,2025-08-15
[5]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备 [P]. 
柳承台 ;
张颢哲 ;
何东承 ;
陈俊任 ;
黄俊锋 .
中国专利 :CN120434383A ,2025-08-05
[6]
数据处理方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P]. 
周亮 ;
刘军华 ;
冯荣城 ;
杨宗富 ;
林威 ;
吴宇豪 .
中国专利 :CN119946153A ,2025-05-06
[7]
电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P]. 
陈林 ;
王林旺 ;
刘恒甫 ;
何敏 ;
刘钟源 .
中国专利 :CN119804956A ,2025-04-11
[8]
基于ATE的图像采集方法、相关装置及半导体测试设备 [P]. 
柳承台 ;
张颢哲 ;
何东承 ;
陈俊任 ;
黄俊锋 .
中国专利 :CN120434383B ,2025-11-21
[9]
半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P]. 
张健 .
中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17
[10]
一种半导体测试设备及测试方法 [P]. 
李超 .
中国专利 :CN119199453A ,2024-12-27