一种半导体测试设备及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510058550.3

申请日：

2015-02-04

公开(公告)号：

CN105988071A

公开(公告)日：

2016-10-05

发明(设计)人：

朱俊灏徐俊

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区张江路18号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R1067

代理机构：

上海申新律师事务所 31272

代理人：

俞涤炯

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101686685358 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2015100585503 申请日:20150204
2020-04-21	授权	授权
2016-10-05	公开	公开

共 50 条

[1]

一种半导体测试设备及测试方法 [P].

李超 .

中国专利 :CN119199453A ,2024-12-27

[2]

一种半导体测试设备 [P].

印益波 .

中国专利 :CN208520960U ,2019-02-19

[3]

半导体测试设备 [P].

张雷 ;

徐俊 .

中国专利 :CN201673239U ,2010-12-15

[4]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[5]

数据处理方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P].

周亮 ;

刘军华 ;

冯荣城 ;

杨宗富 ;

林威 ;

吴宇豪 .

中国专利 :CN119946153A ,2025-05-06

[6]

电流测量方法、半导体测试板卡及半导体测试设备 [P].

陈林 ;

王林旺 ;

刘恒甫 ;

何敏 ;

刘钟源 .

中国专利 :CN119804956A ,2025-04-11

[7]

一种半导体测试设备 [P].

何淑英 .

中国专利 :CN216525461U ,2022-05-13

[8]

一种半导体测试设备 [P].

李强 ;

李彦锋 ;

余文武 .

中国专利 :CN220752163U ,2024-04-09

[9]

一种半导体测试设备 [P].

张新峰 ;

曹吴昊 .

中国专利 :CN113671358A ,2021-11-19

[10]

一种半导体测试设备 [P].

姚俊俊 ;

沈思情 ;

姚钉丁 ;

张俊宝 ;

陈猛 .

中国专利 :CN209156455U ,2019-07-26

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