API间参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210686333.9

申请日：

2022-06-16

公开(公告)号：

CN115086436A

公开(公告)日：

2022-09-20

发明(设计)人：

李东良

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号

IPC主分类号：

H04L6760

IPC分类号：

H04L410816

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

刘秋月

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	公开	公开

共 50 条

[1]

参数校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张康 .

中国专利 :CN114003432A ,2022-02-01

[2]

参数校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张康 .

中国专利 :CN114003432B ,2025-03-21

[3]

参数校验方法、计算机设备和存储介质 [P].

陈海军 .

中国专利 :CN113535553A ,2021-10-22

[4]

接口参数的校验方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

晏水勇 .

中国专利 :CN109766264A ,2019-05-17

[5]

地址校验方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张亮 ;

李慧星 ;

葛敏辉 ;

翟海保 ;

屈刚 ;

巩伟峥 ;

吴鑫 ;

王兴志 ;

金皓纯 .

中国专利 :CN116319667B ,2025-05-16

[6]

接口数据校验方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P].

张德雷 .

中国专利 :CN115481023A ,2022-12-16

[7]

参数校验方法、装置、设备、存储介质及计算机程序产品 [P].

张松 .

中国专利 :CN119690446A ,2025-03-25

[8]

接口参数校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄霞 .

中国专利 :CN110674376A ,2020-01-10

[9]

单据校验方法、计算机设备及计算机存储介质 [P].

张文浜 ;

徐聪 ;

陆阳 ;

齐博旭 ;

黄飞雪 .

中国专利 :CN117575818A ,2024-02-20

[10]

电火花参数自动校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭新开 ;

王建辉 ;

田东成 .

中国专利 :CN117415397B ,2025-12-30

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