参数校验方法、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110741754.2

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113535553A

公开(公告)日：

2021-10-22

发明(设计)人：

陈海军

申请人：

申请人地址：

201807 上海市嘉定区城北路2258号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司 11606

代理人：

唐德君

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210630
2021-10-22	公开	公开

共 50 条

[1]

参数校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张康 .

中国专利 :CN114003432A ,2022-02-01

[2]

参数校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张康 .

中国专利 :CN114003432B ,2025-03-21

[3]

电火花参数自动校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭新开 ;

王建辉 ;

田东成 .

中国专利 :CN117415397B ,2025-12-30

[4]

电火花参数自动校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

彭新开 ;

王建辉 ;

田东成 .

中国专利 :CN117415397A ,2024-01-19

[5]

参数校验方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

伍思豪 ;

易文峰 ;

吴勇云 ;

蔡仁铭 ;

林志扬 ;

毛耀贤 ;

童健 ;

杨立 ;

张民俊 .

中国专利 :CN118394779A ,2024-07-26

[6]

参数校验方法、装置、设备和计算机存储介质 [P].

张淑霞 ;

邹存璐 ;

许升 .

中国专利 :CN119829408A ,2025-04-15

[7]

API间参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

李东良 .

中国专利 :CN115086436A ,2022-09-20

[8]

数据校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

肖宛昕 ;

杨周龙 ;

李海萍 .

中国专利 :CN114020213A ,2022-02-08

[9]

数据校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张宁宁 ;

蒋先虎 ;

王跃东 .

中国专利 :CN109918403A ,2019-06-21

[10]

时间校验方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

赵趁 .

中国专利 :CN111490843A ,2020-08-04

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