一种电磁继电器永磁贮存退化表征参数的确定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710994392.1

申请日：

2017-10-23

公开(公告)号：

CN107766655B

公开(公告)日：

2018-03-06

发明(设计)人：

梁慧敏廖晓宇刘德龙林义刚叶雪荣翟国富

申请人：

申请人地址：

150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

IPC主分类号：

G06F3020

IPC分类号：

代理机构：

北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139

代理人：

孙皓晨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20171023
2021-03-23	授权	授权
2018-03-06	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电磁继电器触簧系统贮存退化表征参数的确定方法 [P].

叶雪荣 ;

林义刚 ;

杨文英 ;

王汉 ;

翟国富 .

中国专利 :CN107798186A ,2018-03-13

[2]

一种基于多退化机理耦合的电磁继电器退化建模方法 [P].

陈岑 ;

陈昊 ;

翟国富 ;

叶雪荣 .

中国专利 :CN111027216B ,2020-04-17

[3]

一种继电器永磁材料加速贮存退化失效机理变化判别方法 [P].

叶雪荣 ;

武旸 ;

王清敏 ;

林义刚 ;

邓杰 ;

翟国富 .

中国专利 :CN107831459A ,2018-03-23

[4]

继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法 [P].

王召斌 ;

李维燕 ;

尚尚 ;

陈康宁 ;

李朕 ;

刘百鑫 ;

乔青云 .

中国专利 :CN112611963A ,2021-04-06

[5]

一种电磁继电器贮存寿命预测方法 [P].

王召斌 ;

李久鑫 ;

马东坤 ;

李少飞 ;

张文行 ;

何天洋 ;

朱佳淼 .

中国专利 :CN118332891A ,2024-07-12

[6]

TOC表征参数、脆性表征参数的确定方法和装置 [P].

刘伟 ;

程飞 ;

张宇生 ;

余刚 ;

侯艳 ;

郭锐 .

中国专利 :CN108387711B ,2018-08-10

[7]

一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法 [P].

叶雪荣 ;

陈昊 ;

郑博恺 ;

赵建立 ;

陈秋影 ;

翟国富 .

中国专利 :CN107748826B ,2018-03-02

[8]

一种永磁式新型电磁继电器 [P].

范兴明 ;

张伟杰 ;

张鑫 ;

李震 ;

刘华东 .

中国专利 :CN110085487B ,2019-08-02

[9]

一种电磁继电器接触系统的退化故障检测方法 [P].

雷晓犇 ;

王浩 ;

刘远飞 ;

张建业 ;

王薇 ;

胡新华 ;

凌振威 .

中国专利 :CN118194148A ,2024-06-14

[10]

一种电磁继电器外壳及电磁继电器 [P].

彭秀学 ;

饶云飞 ;

李红金 ;

苗建峰 ;

彭贵斌 ;

杨艳青 .

中国专利 :CN118969561A ,2024-11-15

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