继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011320876.6

申请日：

2020-11-23

公开(公告)号：

CN112611963A

公开(公告)日：

2021-04-06

发明(设计)人：

王召斌李维燕尚尚陈康宁李朕刘百鑫乔青云

申请人：

申请人地址：

212003 江苏省镇江市梦溪路2号

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

G01R3100 G01R2720 G01M1300

代理机构：

南京正联知识产权代理有限公司 32243

代理人：

杭行

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/327 申请日:20201123
2021-04-06	公开	公开

共 50 条

[1]

航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法 [P].

翟国富 ;

王召斌 ;

黄晓毅 ;

叶雪荣 ;

马跃 ;

杨文英 ;

任万滨 ;

郑艳明 .

中国专利 :CN102621488B ,2012-08-01

[2]

一种继电器类单机加速贮存试验测试装置及测试方法 [P].

翟国富 ;

郑博恺 ;

付饶 ;

董宝旭 ;

叶雪荣 ;

林义刚 .

中国专利 :CN105866666A ,2016-08-17

[3]

继电器测试设备及系统 [P].

杨惠锋 ;

吴其伟 ;

潘运芳 ;

尙俊 .

中国专利 :CN208255370U ,2018-12-18

[4]

一种继电器综合参数测试系统 [P].

袁汝辉 .

中国专利 :CN115372809B ,2025-11-28

[5]

一种继电器综合参数测试系统 [P].

袁汝辉 .

中国专利 :CN115372809A ,2022-11-22

[6]

一种电磁继电器触簧系统贮存退化表征参数的确定方法 [P].

叶雪荣 ;

林义刚 ;

杨文英 ;

王汉 ;

翟国富 .

中国专利 :CN107798186A ,2018-03-13

[7]

一种电磁继电器永磁贮存退化表征参数的确定方法 [P].

梁慧敏 ;

廖晓宇 ;

刘德龙 ;

林义刚 ;

叶雪荣 ;

翟国富 .

中国专利 :CN107766655B ,2018-03-06

[8]

一种基于退化敏感参数变化趋势分析的继电器寿命预测测试系统 [P].

李桢祥 ;

李蓓 ;

赵茜茹 ;

刘紫熠 ;

吉杨 ;

张卫欣 ;

王季孟 ;

王崇 ;

王玥 ;

张永强 .

中国专利 :CN111596205A ,2020-08-28

[9]

一种机上继电器测试系统及机上继电器测试方法 [P].

高学敏 ;

陈峰 ;

黄利宾 ;

蔡云芳 ;

韩建宾 ;

翁远卓 ;

范玲 ;

陶利军 ;

陈大鹏 ;

介战奎 ;

崔世赟 ;

何乐 ;

陆智豪 .

中国专利 :CN113125945A ,2021-07-16

[10]

电磁继电器综合参数测试仪 [P].

李玲玲 ;

孙训俊 ;

刘敬杰 ;

韩峰 ;

张士暖 ;

段超颖 .

中国专利 :CN203101592U ,2013-07-31

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