一种基于退化敏感参数变化趋势分析的继电器寿命预测测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010505450.1

申请日：

2020-06-05

公开(公告)号：

CN111596205A

公开(公告)日：

2020-08-28

发明(设计)人：

李桢祥李蓓赵茜茹刘紫熠吉杨张卫欣王季孟王崇王玥张永强

申请人：

申请人地址：

300384 天津市西青区海泰华科四路8号

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

代理机构：

天津盛理知识产权代理有限公司 12209

代理人：

王来佳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/327 申请日:20200605
2020-08-28	公开	公开

共 50 条

[1]

一种继电器寿命测试仪及继电器寿命测试系统 [P].

于洋 ;

谢杨清 ;

尹忠铁 .

中国专利 :CN202305756U ,2012-07-04

[2]

继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法 [P].

王召斌 ;

李维燕 ;

尚尚 ;

陈康宁 ;

李朕 ;

刘百鑫 ;

乔青云 .

中国专利 :CN112611963A ,2021-04-06

[3]

一种基于多维设计参数的继电器寿命预测方法 [P].

周学 ;

廖晓宇 ;

朱旭晴 ;

王淑娟 ;

翟国富 ;

梁慧敏 .

中国专利 :CN110795863A ,2020-02-14

[4]

一种继电器电气寿命测试系统 [P].

米月琴 .

中国专利 :CN213750225U ,2021-07-20

[5]

一种继电器综合参数测试系统 [P].

袁汝辉 .

中国专利 :CN115372809B ,2025-11-28

[6]

一种继电器综合参数测试系统 [P].

袁汝辉 .

中国专利 :CN115372809A ,2022-11-22

[7]

一种继电器寿命测试系统及测试方法 [P].

冯正海 ;

程凯 .

中国专利 :CN118068174A ,2024-05-24

[8]

基于性能退化信息的高压继电器剩余寿命预测方法及系统 [P].

张英芝 ;

张境悦 ;

吴微 ;

韩峰 ;

刘思伟 ;

臧德海 ;

程曦辉 ;

程琪 .

中国专利 :CN118797920A ,2024-10-18

[9]

一种温度继电器寿命测试仪 [P].

刘秀梅 ;

刘超 ;

李为国 ;

王小虎 ;

华海月 .

中国专利 :CN103105580B ,2013-05-15

[10]

一种温度继电器寿命测试仪 [P].

刘秀梅 ;

刘超 ;

李为国 ;

王小虎 ;

华海月 .

中国专利 :CN203037820U ,2013-07-03

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