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一种高低温老化测试机架结构
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811221808.7
申请日
:
2018-10-19
公开(公告)号
:
CN109119128A
公开(公告)日
:
2019-01-01
发明(设计)人
:
杜建
邓标华
申请人
:
申请人地址
:
430070 湖北省武汉市洪山区书城路48#(北港工业园)1栋11层
IPC主分类号
:
G11C2956
IPC分类号
:
代理机构
:
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人
:
胡琦旖
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-01-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20181019
2019-01-01
公开
公开
共 50 条
[1]
一种高低温老化测试机架结构
[P].
杜建
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
武汉精鸿电子技术有限公司
武汉精鸿电子技术有限公司
杜建
;
邓标华
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机构:
武汉精鸿电子技术有限公司
武汉精鸿电子技术有限公司
邓标华
.
中国专利
:CN109119128B
,2024-05-31
[2]
一种高低温老化测试机架结构
[P].
杜建
论文数:
0
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0
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杜建
;
邓标华
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邓标华
.
中国专利
:CN208903668U
,2019-05-24
[3]
高低温老化测试机
[P].
黄爱科
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黄爱科
;
金承标
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金承标
;
廖小波
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廖小波
;
蒋琦
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蒋琦
;
罗鑫
论文数:
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0
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罗鑫
.
中国专利
:CN217981739U
,2022-12-06
[4]
雷达高低温老化测试机
[P].
顾耿纶
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顾耿纶
.
中国专利
:CN217181207U
,2022-08-12
[5]
高低温老化测试机箱
[P].
黄锐
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黄锐
.
中国专利
:CN307053670S
,2022-01-07
[6]
高低温老化测试机箱(1)
[P].
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
.
中国专利
:CN306686032S
,2021-07-16
[7]
高低温老化测试机箱(2)
[P].
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
.
中国专利
:CN306686033S
,2021-07-16
[8]
高低温老化测试机箱(3)
[P].
曹锐
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曹锐
;
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
;
邓标华
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邓标华
.
中国专利
:CN307220729S
,2022-04-01
[9]
一种高低温测试机
[P].
程焕宗
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程焕宗
;
朱敏荣
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朱敏荣
;
朱志扬
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朱志扬
.
中国专利
:CN102411071B
,2012-04-11
[10]
一种具有节能功能的RDT高低温老化测试机
[P].
沈嘉琦
论文数:
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
沈嘉琦
;
赵旭
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
赵旭
;
王久梅
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
王久梅
;
徐江波
论文数:
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
徐江波
.
中国专利
:CN221945254U
,2024-11-01
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