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雷达高低温老化测试机
被引:0
申请号
:
CN202220441720.1
申请日
:
2022-03-01
公开(公告)号
:
CN217181207U
公开(公告)日
:
2022-08-12
发明(设计)人
:
顾耿纶
申请人
:
申请人地址
:
523000 广东省东莞市黄江镇合路创业一路8号
IPC主分类号
:
G01S740
IPC分类号
:
代理机构
:
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
:
谭裕强
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-12
授权
授权
共 50 条
[1]
高低温老化测试机
[P].
黄爱科
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黄爱科
;
金承标
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金承标
;
廖小波
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廖小波
;
蒋琦
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蒋琦
;
罗鑫
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罗鑫
.
中国专利
:CN217981739U
,2022-12-06
[2]
高低温老化测试机箱
[P].
黄锐
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黄锐
.
中国专利
:CN307053670S
,2022-01-07
[3]
高低温老化测试机箱(1)
[P].
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
.
中国专利
:CN306686032S
,2021-07-16
[4]
高低温老化测试机箱(2)
[P].
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
.
中国专利
:CN306686033S
,2021-07-16
[5]
高低温老化测试机箱(3)
[P].
曹锐
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曹锐
;
杜建
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杜建
;
裴敬
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裴敬
;
邓标华
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邓标华
.
中国专利
:CN307220729S
,2022-04-01
[6]
一种高低温老化测试机架结构
[P].
杜建
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杜建
;
邓标华
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邓标华
.
中国专利
:CN208903668U
,2019-05-24
[7]
一种高低温老化测试机架结构
[P].
杜建
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机构:
武汉精鸿电子技术有限公司
武汉精鸿电子技术有限公司
杜建
;
邓标华
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机构:
武汉精鸿电子技术有限公司
武汉精鸿电子技术有限公司
邓标华
.
中国专利
:CN109119128B
,2024-05-31
[8]
一种高低温老化测试机架结构
[P].
杜建
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杜建
;
邓标华
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邓标华
.
中国专利
:CN109119128A
,2019-01-01
[9]
一种具有节能功能的RDT高低温老化测试机
[P].
沈嘉琦
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
沈嘉琦
;
赵旭
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
赵旭
;
王久梅
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
王久梅
;
徐江波
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
徐江波
.
中国专利
:CN221945254U
,2024-11-01
[10]
芯片高低温分选测试机
[P].
霍亮
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霍亮
;
徐同德
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徐同德
;
周志军
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周志军
;
王苏川
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王苏川
.
中国专利
:CN216705129U
,2022-06-10
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