雷达高低温老化测试机

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申请号
CN202220441720.1
申请日
2022-03-01
公开(公告)号
CN217181207U
公开(公告)日
2022-08-12
发明(设计)人
顾耿纶
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市黄江镇合路创业一路8号
IPC主分类号
G01S740
IPC分类号
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
谭裕强
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高低温老化测试机 [P]. 
黄爱科 ;
金承标 ;
廖小波 ;
蒋琦 ;
罗鑫 .
中国专利 :CN217981739U ,2022-12-06
[2]
高低温老化测试机箱 [P]. 
黄锐 .
中国专利 :CN307053670S ,2022-01-07
[3]
高低温老化测试机箱(1) [P]. 
杜建 ;
裴敬 .
中国专利 :CN306686032S ,2021-07-16
[4]
高低温老化测试机箱(2) [P]. 
杜建 ;
裴敬 .
中国专利 :CN306686033S ,2021-07-16
[5]
高低温老化测试机箱(3) [P]. 
曹锐 ;
杜建 ;
裴敬 ;
邓标华 .
中国专利 :CN307220729S ,2022-04-01
[6]
一种高低温老化测试机架结构 [P]. 
杜建 ;
邓标华 .
中国专利 :CN208903668U ,2019-05-24
[7]
一种高低温老化测试机架结构 [P]. 
杜建 ;
邓标华 .
中国专利 :CN109119128B ,2024-05-31
[8]
一种高低温老化测试机架结构 [P]. 
杜建 ;
邓标华 .
中国专利 :CN109119128A ,2019-01-01
[9]
一种具有节能功能的RDT高低温老化测试机 [P]. 
沈嘉琦 ;
赵旭 ;
王久梅 ;
徐江波 .
中国专利 :CN221945254U ,2024-11-01
[10]
芯片高低温分选测试机 [P]. 
霍亮 ;
徐同德 ;
周志军 ;
王苏川 .
中国专利 :CN216705129U ,2022-06-10