芯片高低温分选测试机

被引：0

申请号：

CN202123298639.7

申请日：

2021-12-24

公开(公告)号：

CN216705129U

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

霍亮徐同德周志军王苏川

申请人：

申请人地址：

215124 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园E3-101

IPC主分类号：

B07C510

IPC分类号：

B07C512 B07C534 B07C536 B65G4791

代理机构：

苏州新知行知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32414

代理人：

马素琴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-10	授权	授权

共 50 条

[1]

高低温老化测试机 [P].

黄爱科 ;

金承标 ;

廖小波 ;

蒋琦 ;

罗鑫 .

中国专利 :CN217981739U ,2022-12-06

[2]

一种高低温测试机 [P].

程焕宗 ;

朱敏荣 ;

朱志扬 .

中国专利 :CN102411071B ,2012-04-11

[3]

一种芯片高低温气流测试机 [P].

黄良如 .

中国专利 :CN121208594A ,2025-12-26

[4]

雷达高低温老化测试机 [P].

顾耿纶 .

中国专利 :CN217181207U ,2022-08-12

[5]

高低温老化测试机箱 [P].

黄锐 .

中国专利 :CN307053670S ,2022-01-07

[6]

高低温老化测试机箱（1） [P].

杜建 ;

裴敬 .

中国专利 :CN306686032S ,2021-07-16

[7]

高低温冷却液测试机 [P].

唐良红 ;

唐志鹏 .

中国专利 :CN217846139U ,2022-11-18

[8]

高低温老化测试机箱（2） [P].

杜建 ;

裴敬 .

中国专利 :CN306686033S ,2021-07-16

[9]

高低温老化测试机箱（3） [P].

曹锐 ;

杜建 ;

裴敬 ;

邓标华 .

中国专利 :CN307220729S ,2022-04-01

[10]

芯片分选测试机 [P].

邱少君 ;

周欢 ;

何德强 ;

黄勇 ;

仇俊 .

中国专利 :CN309684378S ,2025-12-19

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