一种芯片高低温气流测试机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511550869.8
申请日
2025-10-28
公开(公告)号
CN121208594A
公开(公告)日
2025-12-26
发明(设计)人
黄良如
申请人
思拓玛试验仪器(广东)有限公司
申请人地址
523000 广东省东莞市道滘镇蔡白阳光路一街1号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394
代理人
徐鹤桐
法律状态
公开
国省代码
广东省 东莞市
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共 50 条
[1]
芯片高低温分选测试机 [P]. 
霍亮 ;
徐同德 ;
周志军 ;
王苏川 .
中国专利 :CN216705129U ,2022-06-10
[2]
一种高低温测试机 [P]. 
程焕宗 ;
朱敏荣 ;
朱志扬 .
中国专利 :CN102411071B ,2012-04-11
[3]
高低温老化测试机 [P]. 
黄爱科 ;
金承标 ;
廖小波 ;
蒋琦 ;
罗鑫 .
中国专利 :CN217981739U ,2022-12-06
[4]
一种芯片高低温测试设备 [P]. 
崔建宇 ;
黄平刚 ;
周代强 .
中国专利 :CN221174881U ,2024-06-18
[5]
雷达高低温老化测试机 [P]. 
顾耿纶 .
中国专利 :CN217181207U ,2022-08-12
[6]
高低温老化测试机箱 [P]. 
黄锐 .
中国专利 :CN307053670S ,2022-01-07
[7]
一种芯片高低温测试装置 [P]. 
李亮 ;
王杨 .
中国专利 :CN121027798A ,2025-11-28
[8]
一种芯片高低温测试设备 [P]. 
薛冰 .
中国专利 :CN117169699B ,2024-01-26
[9]
一种芯片高低温测试箱 [P]. 
薛冰 ;
朴炯俊 ;
吴志坚 ;
程雅博 .
中国专利 :CN119456071B ,2025-04-29
[10]
一种芯片高低温测试设备 [P]. 
张本伍 ;
余显樟 ;
胡仁有 ;
叶家健 .
中国专利 :CN120121963A ,2025-06-10