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一种芯片高低温气流测试机
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511550869.8
申请日
:
2025-10-28
公开(公告)号
:
CN121208594A
公开(公告)日
:
2025-12-26
发明(设计)人
:
黄良如
申请人
:
思拓玛试验仪器(广东)有限公司
申请人地址
:
523000 广东省东莞市道滘镇蔡白阳光路一街1号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394
代理人
:
徐鹤桐
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 东莞市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-26
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片高低温分选测试机
[P].
霍亮
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霍亮
;
徐同德
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徐同德
;
周志军
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周志军
;
王苏川
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王苏川
.
中国专利
:CN216705129U
,2022-06-10
[2]
一种高低温测试机
[P].
程焕宗
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程焕宗
;
朱敏荣
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朱敏荣
;
朱志扬
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朱志扬
.
中国专利
:CN102411071B
,2012-04-11
[3]
高低温老化测试机
[P].
黄爱科
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黄爱科
;
金承标
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金承标
;
廖小波
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廖小波
;
蒋琦
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蒋琦
;
罗鑫
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罗鑫
.
中国专利
:CN217981739U
,2022-12-06
[4]
一种芯片高低温测试设备
[P].
崔建宇
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机构:
成都三零嘉微电子有限公司
成都三零嘉微电子有限公司
崔建宇
;
黄平刚
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机构:
成都三零嘉微电子有限公司
成都三零嘉微电子有限公司
黄平刚
;
周代强
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机构:
成都三零嘉微电子有限公司
成都三零嘉微电子有限公司
周代强
.
中国专利
:CN221174881U
,2024-06-18
[5]
雷达高低温老化测试机
[P].
顾耿纶
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顾耿纶
.
中国专利
:CN217181207U
,2022-08-12
[6]
高低温老化测试机箱
[P].
黄锐
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黄锐
.
中国专利
:CN307053670S
,2022-01-07
[7]
一种芯片高低温测试装置
[P].
李亮
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机构:
苏州芯昱安电子科技有限公司
苏州芯昱安电子科技有限公司
李亮
;
王杨
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机构:
苏州芯昱安电子科技有限公司
苏州芯昱安电子科技有限公司
王杨
.
中国专利
:CN121027798A
,2025-11-28
[8]
一种芯片高低温测试设备
[P].
薛冰
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机构:
安盈半导体技术(常州)有限公司
安盈半导体技术(常州)有限公司
薛冰
.
中国专利
:CN117169699B
,2024-01-26
[9]
一种芯片高低温测试箱
[P].
薛冰
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机构:
安盈半导体技术(常州)有限公司
安盈半导体技术(常州)有限公司
薛冰
;
朴炯俊
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机构:
安盈半导体技术(常州)有限公司
安盈半导体技术(常州)有限公司
朴炯俊
;
吴志坚
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机构:
安盈半导体技术(常州)有限公司
安盈半导体技术(常州)有限公司
吴志坚
;
程雅博
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机构:
安盈半导体技术(常州)有限公司
安盈半导体技术(常州)有限公司
程雅博
.
中国专利
:CN119456071B
,2025-04-29
[10]
一种芯片高低温测试设备
[P].
张本伍
论文数:
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机构:
珠海市运泰利自动化设备有限公司
珠海市运泰利自动化设备有限公司
张本伍
;
余显樟
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机构:
珠海市运泰利自动化设备有限公司
珠海市运泰利自动化设备有限公司
余显樟
;
胡仁有
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机构:
珠海市运泰利自动化设备有限公司
珠海市运泰利自动化设备有限公司
胡仁有
;
叶家健
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机构:
珠海市运泰利自动化设备有限公司
珠海市运泰利自动化设备有限公司
叶家健
.
中国专利
:CN120121963A
,2025-06-10
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