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一种纳米晶片电性能自动测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821010858.6
申请日：
2018-06-28
公开(公告)号：
CN208466561U
公开(公告)日：
2019-02-05
发明(设计)人：
姚文渊
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区东旺路53号
IPC主分类号：
B07C5344
IPC分类号：
B07C536
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-02-05 | 授权 | 授权 |
| 2021-12-17 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):B07C 5/344 变更事项:专利权人 变更前:苏州工业园区久泰精密电子有限公司 变更后:苏州久泰精密技术股份有限公司 变更事项:地址 变更前:215000 江苏省苏州市工业园区东旺路53号 变更后:215000 江苏省苏州市工业园区东旺路53号 |