制造X射线平板检测器的方法和X射线平板检测器TFT阵列基板

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380031789.0

申请日：

2013-04-11

公开(公告)号：

CN104396017B

公开(公告)日：

2015-03-04

发明(设计)人：

岩田弘池田光志

申请人：

申请人地址：

日本栃木县

IPC主分类号：

H01L27146

IPC分类号：

H01L27144

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

宋静娴

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-25	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/146 变更事项:专利权人变更前:东芝电子管器件株式会社变更后:佳能电子管器件株式会社变更事项:地址变更前:日本栃木县变更后:日本栃木县
2015-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101603708654 IPC(主分类):H01L 27/146 专利申请号:2013800317890 申请日:20130411
2016-04-27	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101731651853 IPC(主分类):H01L 27/146 专利申请号:2013800317890 登记生效日:20160408 变更事项:申请人变更前权利人:株式会社东芝变更后权利人:东芝电子管器件株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本东京变更后权利人:日本栃木县变更事项:申请人变更前权利人:东芝电子管器件株式会社变更后权利人:无
2018-08-24	授权	授权
2015-03-04	公开	公开

共 50 条

[1]

平板X射线检测器 [P].

池田光志 ;

热田昌己 ;

内藤胜之 ;

金野晃 ;

八木均 ;

田中学 .

中国专利 :CN1365448A ,2002-08-21

[2]

数字X射线检测器的阵列基板和数字X射线检测器 [P].

李汉锡 ;

罗炯壹 ;

金廷俊 ;

郑丞容 .

中国专利 :CN110034207B ,2019-07-19

[3]

检测器固定装置、X射线系统和X射线平板检测器 [P].

马赛厄斯·霍尼格 .

中国专利 :CN101401034A ,2009-04-01

[4]

X射线检测器 [P].

金姜佑 ;

尹视藕 ;

申世镇 .

中国专利 :CN110034133A ,2019-07-19

[5]

X射线检测器及X射线检测器的制造方法 [P].

本间克久 ;

会田博之 ;

伊藤健一 ;

藤泽晶子 ;

鬼桥浩志 .

中国专利 :CN100335914C ,2005-06-15

[6]

用于X射线检测器的阵列基板以及包括其的X射线检测器 [P].

尹载皓 .

中国专利 :CN107068701B ,2017-08-18

[7]

用于数字X射线检测器的阵列基板及其制造方法 [P].

罗炯壹 ;

李汉锡 ;

金廷俊 ;

郑丞容 .

中国专利 :CN109427837A ,2019-03-05

[8]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN202776332U ,2013-03-13

[9]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN103371839A ,2013-10-30

[10]

数字X射线检测器用阵列基板及包括其的X射线检测器 [P].

田惠知 ;

郑丞容 ;

李汉锡 ;

罗炯壹 ;

金廷俊 .

中国专利 :CN109979948A ,2019-07-05

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