接口性能测试方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110703800.X

申请日：

2021-06-24

公开(公告)号：

CN113282476B

公开(公告)日：

2021-08-20

发明(设计)人：

孔丽萍晏高林吴昊覃联喜

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室

IPC主分类号：

G06F1134

IPC分类号：

G06F1130 G06F1136

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

刘晖铭;张颖玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/34 申请日:20210624
2023-01-20	授权	授权
2021-08-20	公开	公开

共 50 条

[1]

接口性能测试方法、装置及电子设备 [P].

汪慕澜 ;

夏翔宇 ;

李文俊 .

中国专利 :CN120011190A ,2025-05-16

[2]

接口性能测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

胡鹏强 ;

蔡勇 .

中国专利 :CN118708454A ,2024-09-27

[3]

接口测试方法、接口测试装置和电子设备 [P].

邢旺 ;

熊斯衍 ;

刘任 .

中国专利 :CN106909481B ,2017-06-30

[4]

芯片I/O接口性能测试方法、装置及电子设备 [P].

文继伟 .

中国专利 :CN114741246A ,2022-07-12

[5]

一种接口性能测试方法、装置及电子设备 [P].

张欢 ;

李智 ;

钱泓锦 ;

刘占亮 ;

窦志成 .

中国专利 :CN111881060B ,2020-11-03

[6]

性能测试方法和装置、电子设备和存储介质 [P].

李博 .

中国专利 :CN120144437A ,2025-06-13

[7]

软件代码性能测试方法、装置和电子设备 [P].

刘淼 .

中国专利 :CN115495337A ,2022-12-20

[8]

性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李平山 ;

张建国 ;

张东锋 ;

舒敏 .

中国专利 :CN109343092B ,2019-02-15

[9]

接口测试方法、装置、系统和电子设备 [P].

满朕 ;

刘通 .

中国专利 :CN112783787A ,2021-05-11

[10]

接口测试方法、装置、电子设备和介质 [P].

卢辉宇 .

中国专利 :CN114666258A ,2022-06-24

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