一种接口性能测试方法、装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011036729.6
申请日
2020-09-28
公开(公告)号
CN111881060B
公开(公告)日
2020-11-03
发明(设计)人
张欢 李智 钱泓锦 刘占亮 窦志成
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区中关村东路1号院8号楼三层B201D-1
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京动力号知识产权代理有限公司 11775
代理人
梁艳;白婉露
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
接口性能测试方法、装置及电子设备 [P]. 
汪慕澜 ;
夏翔宇 ;
李文俊 .
中国专利 :CN120011190A ,2025-05-16
[2]
接口测试方法、装置及电子设备 [P]. 
尹家露 .
中国专利 :CN112612700A ,2021-04-06
[3]
接口测试方法、装置及电子设备 [P]. 
尹家露 .
中国专利 :CN112612700B ,2024-08-13
[4]
一种接口压力性能测试方法、装置及电子设备 [P]. 
刘小梅 .
中国专利 :CN106383786A ,2017-02-08
[5]
接口性能测试方法、装置和电子设备 [P]. 
孔丽萍 ;
晏高林 ;
吴昊 ;
覃联喜 .
中国专利 :CN113282476B ,2021-08-20
[6]
接口测试方法、装置及电子设备 [P]. 
胡鹏强 .
中国专利 :CN110147320A ,2019-08-20
[7]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈锐 ;
王阳 ;
张银红 ;
孙江凡 .
中国专利 :CN113760687A ,2021-12-07
[8]
一种测试接口方法、装置及电子设备 [P]. 
尹涛 ;
邹延义 ;
冯双玉 .
中国专利 :CN119003367A ,2024-11-22
[9]
芯片I/O接口性能测试方法、装置及电子设备 [P]. 
文继伟 .
中国专利 :CN114741246A ,2022-07-12
[10]
基于mock测试的接口测试方法、装置以及电子设备 [P]. 
王凡 ;
张颖 .
中国专利 :CN114817068A ,2022-07-29