一种测试接口方法、装置及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411213320.5

申请日：

2024-08-30

公开(公告)号：

CN119003367A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

尹涛邹延义冯双玉

申请人：

云粒智慧科技有限公司

申请人地址：

100037 北京市西城区阜成门外大街甲28号西楼13层06室

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F8/41 G06F11/07

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

刘阳阳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240830
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

胡鹏强 .

中国专利 :CN110147320A ,2019-08-20

[2]

接口测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

邓智 .

中国专利 :CN120469909A ,2025-08-12

[3]

一种接口性能测试方法、装置及电子设备 [P].

张欢 ;

李智 ;

钱泓锦 ;

刘占亮 ;

窦志成 .

中国专利 :CN111881060B ,2020-11-03

[4]

一种接口测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

马雪娇 .

中国专利 :CN111240958A ,2020-06-05

[5]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

董虎 .

中国专利 :CN120578581A ,2025-09-02

[6]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

刘小梅 ;

谢文艳 .

中国专利 :CN107276842A ,2017-10-20

[7]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

李付伟 .

中国专利 :CN112817852A ,2021-05-18

[8]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

袁永胜 ;

丁佰霞 ;

李艳梅 ;

谢念 .

中国专利 :CN111382074A ,2020-07-07

[9]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

尹家露 .

中国专利 :CN112612700A ,2021-04-06

[10]

接口测试方法、装置及电子设备 [P].

尹家露 .

中国专利 :CN112612700B ,2024-08-13

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