光谱扫描测试装置及其测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510216938.1
申请日
2015-04-30
公开(公告)号
CN106198463A
公开(公告)日
2016-12-07
发明(设计)人
张敏 顾泓 周桃飞 张志强 刘磊 田飞飞 郑树楠 徐科
申请人
申请人地址
215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号
IPC主分类号
G01N2163
IPC分类号
代理机构
深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304
代理人
孙伟峰
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
光谱测试装置及其测试方法 [P]. 
张敏 ;
张志强 ;
田飞飞 ;
刘磊 ;
郑树楠 ;
周桃飞 ;
徐科 .
中国专利 :CN106197665B ,2016-12-07
[2]
扫描测试装置与扫描测试方法 [P]. 
陈柏霖 .
中国专利 :CN113759240B ,2024-05-14
[3]
扫描测试装置与扫描测试方法 [P]. 
陈柏霖 .
中国专利 :CN113759240A ,2021-12-07
[4]
测试方法、测试系统及其测试装置 [P]. 
罗积辉 ;
苏国辉 ;
吕荔 ;
龚志伟 ;
牛海清 ;
全衡军 ;
孟宪龙 .
中国专利 :CN106066441A ,2016-11-02
[5]
光谱测试装置 [P]. 
孔莉俊 .
中国专利 :CN208736556U ,2019-04-12
[6]
扫描测试装置 [P]. 
杨益彰 .
中国专利 :CN101339228A ,2009-01-07
[7]
测试系统及其测试装置与测试方法 [P]. 
丁伟修 .
中国专利 :CN117732749A ,2024-03-22
[8]
测试系统及其测试装置 [P]. 
罗积辉 ;
苏国辉 ;
吕荔 ;
龚志伟 ;
牛海清 ;
全衡军 ;
孟宪龙 .
中国专利 :CN205861814U ,2017-01-04
[9]
扫描测试装置及方法 [P]. 
聂小军 ;
王文平 ;
文金 .
中国专利 :CN107016315B ,2017-08-04
[10]
测试装置及其测试方法 [P]. 
邱耀昌 .
中国专利 :CN117953951A ,2024-04-30