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光谱测试装置及其测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510213333.7
申请日
:
2015-04-29
公开(公告)号
:
CN106197665B
公开(公告)日
:
2016-12-07
发明(设计)人
:
张敏
张志强
田飞飞
刘磊
郑树楠
周桃飞
徐科
申请人
:
申请人地址
:
215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号
IPC主分类号
:
G01J328
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304
代理人
:
孙伟峰
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-12-07
公开
公开
2017-01-04
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101695183128 IPC(主分类):G01J 3/28 专利申请号:2015102133337 申请日:20150429
2018-11-09
授权
授权
共 50 条
[1]
光谱扫描测试装置及其测试方法
[P].
张敏
论文数:
0
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0
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0
张敏
;
顾泓
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顾泓
;
周桃飞
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周桃飞
;
张志强
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张志强
;
刘磊
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刘磊
;
田飞飞
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田飞飞
;
郑树楠
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郑树楠
;
徐科
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徐科
.
中国专利
:CN106198463A
,2016-12-07
[2]
光谱测试装置
[P].
孔莉俊
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孔莉俊
.
中国专利
:CN208736556U
,2019-04-12
[3]
EVM测试装置及其测试方法
[P].
张宙元
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机构:
芯朴科技(上海)有限公司
芯朴科技(上海)有限公司
张宙元
.
中国专利
:CN113783631B
,2024-12-10
[4]
EVM测试装置及其测试方法
[P].
张宙远
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张宙远
.
中国专利
:CN113783631A
,2021-12-10
[5]
测试装置及其测试方法
[P].
邱耀昌
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机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
邱耀昌
.
中国专利
:CN117953951A
,2024-04-30
[6]
测试装置及其测试方法
[P].
李远彬
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李远彬
;
郭其鹏
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郭其鹏
.
中国专利
:CN114217250A
,2022-03-22
[7]
测试装置及其测试方法
[P].
熊雨凯
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熊雨凯
;
陆欣
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陆欣
;
翁世芳
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翁世芳
;
王飞
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王飞
;
李新华
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李新华
;
吕东生
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吕东生
.
中国专利
:CN102413357A
,2012-04-11
[8]
测试装置及其测试方法
[P].
林敬文
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0
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林敬文
.
中国专利
:CN104636247A
,2015-05-20
[9]
测试方法及其测试装置
[P].
林轩毅
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林轩毅
.
中国专利
:CN104251941A
,2014-12-31
[10]
测试装置及其测试方法
[P].
李涛
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李涛
;
曹改娟
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曹改娟
;
吴居良
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吴居良
;
罗发飞
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罗发飞
.
中国专利
:CN104515924B
,2015-04-15
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