光谱测试装置及其测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510213333.7
申请日
2015-04-29
公开(公告)号
CN106197665B
公开(公告)日
2016-12-07
发明(设计)人
张敏 张志强 田飞飞 刘磊 郑树楠 周桃飞 徐科
申请人
申请人地址
215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
代理机构
深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304
代理人
孙伟峰
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光谱扫描测试装置及其测试方法 [P]. 
张敏 ;
顾泓 ;
周桃飞 ;
张志强 ;
刘磊 ;
田飞飞 ;
郑树楠 ;
徐科 .
中国专利 :CN106198463A ,2016-12-07
[2]
光谱测试装置 [P]. 
孔莉俊 .
中国专利 :CN208736556U ,2019-04-12
[3]
EVM测试装置及其测试方法 [P]. 
张宙元 .
中国专利 :CN113783631B ,2024-12-10
[4]
EVM测试装置及其测试方法 [P]. 
张宙远 .
中国专利 :CN113783631A ,2021-12-10
[5]
测试装置及其测试方法 [P]. 
邱耀昌 .
中国专利 :CN117953951A ,2024-04-30
[6]
测试装置及其测试方法 [P]. 
李远彬 ;
郭其鹏 .
中国专利 :CN114217250A ,2022-03-22
[7]
测试装置及其测试方法 [P]. 
熊雨凯 ;
陆欣 ;
翁世芳 ;
王飞 ;
李新华 ;
吕东生 .
中国专利 :CN102413357A ,2012-04-11
[8]
测试装置及其测试方法 [P]. 
林敬文 .
中国专利 :CN104636247A ,2015-05-20
[9]
测试方法及其测试装置 [P]. 
林轩毅 .
中国专利 :CN104251941A ,2014-12-31
[10]
测试装置及其测试方法 [P]. 
李涛 ;
曹改娟 ;
吴居良 ;
罗发飞 .
中国专利 :CN104515924B ,2015-04-15