EVM测试装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111073341.8

申请日：

2021-09-14

公开(公告)号：

CN113783631A

公开(公告)日：

2021-12-10

发明(设计)人：

张宙远

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区博霞路22号305室

IPC主分类号：

H04B1700

IPC分类号：

代理机构：

上海和华启核知识产权代理有限公司 31339

代理人：

王仙子

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-25	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):H04B 17/00 变更事项:申请人变更前:芯朴科技（上海）有限公司变更后:芯朴科技（上海）有限公司变更事项:地址变更前:201203 上海市浦东新区博霞路22号305室变更后:201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层
2021-12-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/00 申请日:20210914
2021-12-10	公开	公开

共 50 条

[1]

EVM测试装置及其测试方法 [P].

张宙元 .

中国专利 :CN113783631B ,2024-12-10

[2]

光谱测试装置及其测试方法 [P].

张敏 ;

张志强 ;

田飞飞 ;

刘磊 ;

郑树楠 ;

周桃飞 ;

徐科 .

中国专利 :CN106197665B ,2016-12-07

[3]

测试装置及其测试方法 [P].

邱耀昌 .

中国专利 :CN117953951A ,2024-04-30

[4]

测试装置及其测试方法 [P].

李远彬 ;

郭其鹏 .

中国专利 :CN114217250A ,2022-03-22

[5]

测试装置及其测试方法 [P].

熊雨凯 ;

陆欣 ;

翁世芳 ;

王飞 ;

李新华 ;

吕东生 .

中国专利 :CN102413357A ,2012-04-11

[6]

测试装置及其测试方法 [P].

林敬文 .

中国专利 :CN104636247A ,2015-05-20

[7]

测试方法及其测试装置 [P].

林轩毅 .

中国专利 :CN104251941A ,2014-12-31

[8]

测试装置及其测试方法 [P].

李涛 ;

曹改娟 ;

吴居良 ;

罗发飞 .

中国专利 :CN104515924B ,2015-04-15

[9]

测试装置及其测试方法 [P].

林德荣 .

中国专利 :CN1873432A ,2006-12-06

[10]

测试装置及其测试方法 [P].

胡建明 ;

孙燕 ;

尹国煌 ;

马志东 ;

许彬 .

中国专利 :CN101769986A ,2010-07-07

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