透过率相关频谱法颗粒测量方法及其装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710042874.3

申请日：

2007-06-27

公开(公告)号：

CN101082559A

公开(公告)日：

2007-12-05

发明(设计)人：

沈建琪蔡小舒于彬

申请人：

申请人地址：

200093上海市杨浦区军工路516号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01N2159 G06F1900 G06F1715

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司

代理人：

吴宝根

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-11-03	授权	授权
2014-08-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101584491206 IPC(主分类):G01N 15/00 专利号:ZL2007100428743 申请日:20070627 授权公告日:20101103 终止日期:20130627
2007-12-05	公开	公开

共 50 条

[1]

透过率相关频谱法颗粒测量装置 [P].

沈建琪 ;

蔡小舒 ;

于彬 .

中国专利 :CN201096701Y ,2008-08-06

[2]

透过率脉动法颗粒测量方法及其装置 [P].

沈建琪 ;

蔡小舒 ;

于彬 .

中国专利 :CN101187617A ,2008-05-28

[3]

透过率脉动法颗粒测量装置 [P].

沈建琪 ;

蔡小舒 ;

于彬 .

中国专利 :CN201063015Y ,2008-05-21

[4]

获取透过率起伏空间相关频谱的装置及其方法 [P].

于彬 ;

沈建琪 .

中国专利 :CN101706405A ,2010-05-12

[5]

气体透过率测量装置和气体透过率测量方法 [P].

成大鎭 ;

申容贤 ;

林仁太 .

中国专利 :CN105765365A ,2016-07-13

[6]

一种纳米颗粒测量装置及其测量方法 [P].

彭志平 ;

彭旸 .

中国专利 :CN102879318A ,2013-01-16

[7]

基于等压法的质子交换膜氢气透过率测量装置及测量方法 [P].

王军 ;

王晓璇 ;

于萌 ;

肖经纬 ;

祝淑婷 ;

季辉 ;

李增坤 ;

荣钦功 .

中国专利 :CN120369574A ,2025-07-25

[8]

基于等压法的质子交换膜氢气透过率测量装置及测量方法 [P].

王军 ;

王晓璇 ;

于萌 ;

肖经纬 ;

祝淑婷 ;

季辉 ;

李增坤 ;

荣钦功 .

中国专利 :CN120369574B ,2025-08-15

[9]

一种任意角度透过率测量装置及其测量方法 [P].

姜博宇 ;

郭会会 .

中国专利 :CN108872160B ,2024-09-27

[10]

一种任意角度透过率测量装置及其测量方法 [P].

姜博宇 ;

郭会会 .

中国专利 :CN108872160A ,2018-11-23

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