一种纳米颗粒测量装置及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210388787.4

申请日：

2012-10-15

公开(公告)号：

CN102879318A

公开(公告)日：

2013-01-16

发明(设计)人：

彭志平彭旸

申请人：

申请人地址：

210000 江苏省南京市鼓楼区宁夏路13-1号

IPC主分类号：

G01N1514

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-01-16	公开	公开
2013-02-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101401520956 IPC(主分类):G01N 15/14 专利申请号:2012103887874 申请日:20121015

共 50 条

[1]

一种纳米颗粒测量装置 [P].

彭志平 ;

彭旸 .

中国专利 :CN202793993U ,2013-03-13

[2]

纳米颗粒直径测量装置以及纳米颗粒直径测量方法 [P].

杨晖 ;

杨海马 ;

孔平 ;

郑刚 ;

于小强 ;

宋磊磊 .

中国专利 :CN103424080B ,2013-12-04

[3]

一种纳米颗粒溶液浓度测量装置及测量方法 [P].

杨晖 ;

杨海马 ;

孔平 ;

郑刚 .

中国专利 :CN102636422A ,2012-08-15

[4]

纳米颗粒测量方法、装置以及系统 [P].

许永童 ;

谢勇 ;

陈艺艺 .

中国专利 :CN120314164A ,2025-07-15

[5]

大气能见度测量装置及其测量方法 [P].

孟祥谦 ;

胡顺星 ;

邵石生 .

中国专利 :CN103424379B ,2013-12-04

[6]

一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030298B ,2018-12-18

[7]

颗粒测量装置和颗粒测量方法 [P].

坂东和奈 ;

近藤郁 ;

田渊拓哉 ;

近藤聪太 .

中国专利 :CN114424044A ,2022-04-29

[8]

颗粒测量装置和颗粒测量方法 [P].

坂东和奈 ;

近藤郁 ;

田渊拓哉 ;

近藤聪太 .

日本专利 :CN114424044B ,2025-12-30

[9]

一种纳米颗粒摩尔浓度的测量方法 [P].

盖宏伟 ;

赵丹丹 ;

刘晓君 .

中国专利 :CN120869908A ,2025-10-31

[10]

高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030299A ,2018-12-18

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