高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811295092.5

申请日：

2018-11-01

公开(公告)号：

CN109030299A

公开(公告)日：

2018-12-18

发明(设计)人：

刘伟秦福元王雅静申晋马立修陈文钢

申请人：

申请人地址：

255086 山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

淄博佳和专利代理事务所 37223

代理人：

孙爱华

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-18	公开	公开
2019-01-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20181101
2020-08-21	授权	授权
2021-08-31	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 15/02 登记生效日:20210819 变更事项:专利权人变更前权利人:山东理工大学变更后权利人:遵义汇通院士科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:255086 山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室变更后权利人:563099 贵州省遵义市新蒲新区礼仪五号还房小区30栋（原礼仪新城指挥部）第三层变更事项:专利权人变更后权利人:山东理工大学

共 50 条

[1]

一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030298B ,2018-12-18

[2]

静态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

任中京 ;

于代君 .

中国专利 :CN202281738U ,2012-06-20

[3]

高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置 [P].

李绍新 ;

王永东 ;

张延娇 ;

黎国锋 .

中国专利 :CN101762441A ,2010-06-30

[4]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN102213669A ,2011-10-12

[5]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN201984012U ,2011-09-21

[6]

一种纳米颗粒溶液浓度测量装置及测量方法 [P].

杨晖 ;

杨海马 ;

孔平 ;

郑刚 .

中国专利 :CN102636422A ,2012-08-15

[7]

一种用于纳米颗粒粒度测量的后向散射光接收装置 [P].

秦福元 ;

刘伟 ;

申晋 ;

秦和义 .

中国专利 :CN218297938U ,2023-01-13

[8]

一种纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

周骛 ;

刘丽丽 .

中国专利 :CN104568683A ,2015-04-29

[9]

同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN102109454A ,2011-06-29

[10]

同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN202275041U ,2012-06-13

← 1 2 3 4 5 →