同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110064276.2

申请日：

2011-03-17

公开(公告)号：

CN102109454A

公开(公告)日：

2011-06-29

发明(设计)人：

蔡小舒苏明旭

申请人：

申请人地址：

200093 上海市杨浦区军工路516号

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司 31001

代理人：

吴宝根

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-29	公开	公开
2011-08-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101096110580 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2011100642762 申请日:20110317
2018-04-03	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20110317 授权公告日:20130403 终止日期:20170317
2013-04-03	授权	授权

共 50 条

[1]

同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN202275041U ,2012-06-13

[2]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN102213669A ,2011-10-12

[3]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN201984012U ,2011-09-21

[4]

静态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

任中京 ;

于代君 .

中国专利 :CN202281738U ,2012-06-20

[5]

一种纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

周骛 ;

刘丽丽 .

中国专利 :CN104568683A ,2015-04-29

[6]

高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030299A ,2018-12-18

[7]

低强度激光动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法及其装置 [P].

邢达 ;

李绍新 .

中国专利 :CN1403797A ,2003-03-19

[8]

弱散射纳米颗粒的外差动态光散射测量系统及方法 [P].

韩鹏 ;

彭艺 ;

邱健 ;

彭力 ;

骆开庆 ;

刘冬梅 .

中国专利 :CN114577680A ,2022-06-03

[9]

一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030298B ,2018-12-18

[10]

一种测量溶液中纳米颗粒粒度三维分布的方法及装置 [P].

吴学成 ;

吴迎春 ;

陈玲红 ;

南海娇 ;

郑成航 ;

高翔 ;

邱坤赞 ;

岑可法 .

中国专利 :CN112595635B ,2025-05-30

← 1 2 3 4 5 →