同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120070411.X

申请日：

2011-03-17

公开(公告)号：

CN202275041U

公开(公告)日：

2012-06-13

发明(设计)人：

蔡小舒苏明旭

申请人：

申请人地址：

200093 上海市杨浦区军工路516号

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司 31001

代理人：

吴宝根

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-05-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101582071514 IPC(主分类):G01N 15/02 专利号:ZL201120070411X 申请日:20110317 授权公告日:20120613 终止日期:20130317
2012-06-13	授权	授权

共 50 条

[1]

同时测量多颗粒的动态光散射纳米颗粒粒度的装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN102109454A ,2011-06-29

[2]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN201984012U ,2011-09-21

[3]

静态光散射纳米颗粒粒度测量装置 [P].

任中京 ;

于代君 .

中国专利 :CN202281738U ,2012-06-20

[4]

一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN102213669A ,2011-10-12

[5]

一种纳米颗粒粒度测量装置及方法 [P].

蔡小舒 ;

周骛 ;

刘丽丽 .

中国专利 :CN104568683A ,2015-04-29

[6]

高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030299A ,2018-12-18

[7]

一种用于纳米颗粒粒度测量的后向散射光接收装置 [P].

秦福元 ;

刘伟 ;

申晋 ;

秦和义 .

中国专利 :CN218297938U ,2023-01-13

[8]

低强度激光动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法及其装置 [P].

邢达 ;

李绍新 .

中国专利 :CN1403797A ,2003-03-19

[9]

一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法 [P].

刘伟 ;

秦福元 ;

王雅静 ;

申晋 ;

马立修 ;

陈文钢 .

中国专利 :CN109030298B ,2018-12-18

[10]

动态偏振光散射颗粒测量装置 [P].

杨晖 ;

郑刚 ;

戴曙光 .

中国专利 :CN201622228U ,2010-11-03

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