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半导体器件的形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410513588.0
申请日
:
2014-09-29
公开(公告)号
:
CN105529253A
公开(公告)日
:
2016-04-27
发明(设计)人
:
林艺辉
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
:
H01L2128
IPC分类号
:
H01L21768
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
吴圳添;骆苏华
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-04-27
公开
公开
2016-05-25
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101662097968 IPC(主分类):H01L 21/28 专利申请号:2014105135880 申请日:20140929
2018-07-10
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体器件的形成方法
[P].
吴金刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴金刚
;
倪景华
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倪景华
;
黄晓辉
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0
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0
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0
黄晓辉
.
中国专利
:CN102487048B
,2012-06-06
[2]
半导体器件及其形成方法
[P].
周飞
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0
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0
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0
周飞
.
中国专利
:CN110648970B
,2020-01-03
[3]
半导体器件的形成方法
[P].
张海洋
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0
张海洋
;
王冬江
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0
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0
王冬江
.
中国专利
:CN103871857B
,2014-06-18
[4]
半导体器件及其形成方法
[P].
洪中山
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0
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0
洪中山
.
中国专利
:CN103545179B
,2014-01-29
[5]
半导体器件及其形成方法
[P].
周飞
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0
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0
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0
周飞
.
中国专利
:CN110858565B
,2020-03-03
[6]
半导体器件及其形成方法
[P].
李勇
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0
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0
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0
李勇
.
中国专利
:CN109599337A
,2019-04-09
[7]
半导体器件及其形成方法
[P].
伏广才
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伏广才
.
中国专利
:CN113140502A
,2021-07-20
[8]
半导体器件及其形成方法
[P].
李勇
论文数:
0
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0
李勇
.
中国专利
:CN109786248A
,2019-05-21
[9]
半导体器件及其形成方法
[P].
纪世良
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纪世良
;
朱永吉
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朱永吉
.
中国专利
:CN111081547A
,2020-04-28
[10]
半导体器件及其形成方法
[P].
吴亮
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吴亮
;
董天化
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董天化
;
柳会雄
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柳会雄
;
金岚
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金岚
.
中国专利
:CN106206405A
,2016-12-07
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