半导体器件的形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN201410513588.0
申请日
2014-09-29
公开(公告)号
CN105529253A
公开(公告)日
2016-04-27
发明(设计)人
林艺辉
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
H01L21768
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴圳添;骆苏华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件的形成方法 [P]. 
吴金刚 ;
倪景华 ;
黄晓辉 .
中国专利 :CN102487048B ,2012-06-06
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110648970B ,2020-01-03
[3]
半导体器件的形成方法 [P]. 
张海洋 ;
王冬江 .
中国专利 :CN103871857B ,2014-06-18
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
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[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN109599337A ,2019-04-09
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
伏广才 .
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
李勇 .
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[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
纪世良 ;
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[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
吴亮 ;
董天化 ;
柳会雄 ;
金岚 .
中国专利 :CN106206405A ,2016-12-07