光学特性量测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220018471.1

申请日：

2012-01-16

公开(公告)号：

CN202511882U

公开(公告)日：

2012-10-31

发明(设计)人：

郭鸿宾

申请人：

申请人地址：

中国台湾台中市

IPC主分类号：

G01J142

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

任默闻

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-25	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/42 申请日:20120116 授权公告日:20121031 终止日期:20200116
2012-10-31	授权	授权

共 50 条

[1]

光学特性量测系统 [P].

郭鸿宾 .

中国专利 :CN202305174U ,2012-07-04

[2]

光学量测系统 [P].

李彦志 .

中国专利 :CN215639275U ,2022-01-25

[3]

光学量测系统 [P].

李诗婷 ;

钟世宾 ;

王家祥 .

中国专利 :CN220524907U ,2024-02-23

[4]

光学量测系统结构 [P].

翁义龙 ;

张添登 ;

黄盟仁 .

中国专利 :CN201852695U ,2011-06-01

[5]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[6]

光学量测系统 [P].

刘建圣 ;

施玟妤 .

中国专利 :CN117517302A ,2024-02-06

[7]

光学量测系统 [P].

郝祖德 ;

傅荔暄 ;

郑莹钦 ;

赖杰宏 .

中国专利 :CN212459405U ,2021-02-02

[8]

光学量测系统 [P].

周建宏 .

中国专利 :CN101358834A ,2009-02-04

[9]

光学影像脉象量测系统 [P].

黃澄儀 ;

谢易振 ;

柯昱成 ;

蔡钧涵 .

中国专利 :CN209951236U ,2020-01-17

[10]

光学量测系统、光学量测方法及存储介质 [P].

庄源 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117450929B ,2024-03-22

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