半自动真空测试治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201220317712.2
申请日
2012-07-03
公开(公告)号
CN202648883U
公开(公告)日
2013-01-02
发明(设计)人
吉尧明
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇马鞍山中路民新路155号
IPC主分类号
G01M302
IPC分类号
代理机构
南京纵横知识产权代理有限公司 32224
代理人
董建林
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半自动真空测试治具 [P]. 
吉尧明 .
中国专利 :CN102735402A ,2012-10-17
[2]
真空测试治具 [P]. 
范校博 .
中国专利 :CN304321261S ,2017-10-20
[3]
真空测试治具 [P]. 
宁伟东 .
中国专利 :CN3577361D ,2006-11-08
[4]
一种真空测试治具 [P]. 
尚晓辉 ;
程坤 .
中国专利 :CN204789911U ,2015-11-18
[5]
一种真空测试治具 [P]. 
孙鸿运 .
中国专利 :CN222926827U ,2025-05-30
[6]
一种芯片真空测试治具 [P]. 
张锋 .
中国专利 :CN214669455U ,2021-11-09
[7]
半自动推力测试治具 [P]. 
葛海洋 .
中国专利 :CN202041331U ,2011-11-16
[8]
手动测试治具 [P]. 
许可贵 ;
苏祥辉 .
中国专利 :CN218036905U ,2022-12-13
[9]
一种照相机镜头真空测试治具 [P]. 
周小峰 ;
廖亚林 ;
傅大东 .
中国专利 :CN220380679U ,2024-01-23
[10]
半自动PCB板测试治具 [P]. 
孙丰 .
中国专利 :CN204228758U ,2015-03-25