真空测试治具

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN200530157706.0
申请日
2005-12-20
公开(公告)号
CN3577361D
公开(公告)日
2006-11-08
发明(设计)人
宁伟东
申请人
申请人地址
518000广东省深圳市龙岗区清林西路深圳市留学人员(龙岗)创业园一园34号
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
真空测试治具 [P]. 
范校博 .
中国专利 :CN304321261S ,2017-10-20
[2]
半自动真空测试治具 [P]. 
吉尧明 .
中国专利 :CN102735402A ,2012-10-17
[3]
半自动真空测试治具 [P]. 
吉尧明 .
中国专利 :CN202648883U ,2013-01-02
[4]
一种真空测试治具 [P]. 
尚晓辉 ;
程坤 .
中国专利 :CN204789911U ,2015-11-18
[5]
一种真空测试治具 [P]. 
孙鸿运 .
中国专利 :CN222926827U ,2025-05-30
[6]
一种芯片真空测试治具 [P]. 
张锋 .
中国专利 :CN214669455U ,2021-11-09
[7]
一种照相机镜头真空测试治具 [P]. 
周小峰 ;
廖亚林 ;
傅大东 .
中国专利 :CN220380679U ,2024-01-23
[8]
真空测试罩及真空测试装置 [P]. 
黎海鑫 ;
赖友荣 ;
伍伟强 ;
周艳辉 .
中国专利 :CN221033057U ,2024-05-28
[9]
真空测试包 [P]. 
何国强 .
中国专利 :CN204301925U ,2015-04-29
[10]
一种密封性强的真空测试治具 [P]. 
习云青 .
中国专利 :CN208887854U ,2019-05-21