表面粗糙度非接触测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200520044169.3

申请日：

2005-08-09

公开(公告)号：

CN2814333Y

公开(公告)日：

2006-09-06

发明(设计)人：

朱青徐文东高秀敏张锋杨金涛戴珂

申请人：

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

其他有关事项避免重复授权放弃专利权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-07-25	其他有关事项避免重复授权放弃专利权	其他有关事项避免重复授权放弃专利权放弃生效日:20050809
2006-09-06	授权	授权

共 50 条

[1]

表面粗糙度非接触测量系统 [P].

朱青 ;

徐文东 ;

高秀敏 ;

张锋 ;

杨金涛 ;

戴珂 .

中国专利 :CN1731080A ,2006-02-08

[2]

曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置 [P].

刘建新 ;

谭平 .

中国专利 :CN202432999U ,2012-09-12

[3]

接触式表面粗糙度测量仪 [P].

鲁旭东 ;

胡子健 ;

幸聪 .

中国专利 :CN222336286U ,2025-01-10

[4]

土壤表面粗糙度测量装置 [P].

朱榴骏 ;

申晓骥 ;

杨子锐 ;

刘懿 ;

袁山水 ;

季芳 .

中国专利 :CN223376554U ,2025-09-23

[5]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗·查劳瑞 ;

凯文·G·哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN105378427A ,2016-03-02

[6]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗.查劳瑞 ;

凯文.G.哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN104121872B ,2014-10-29

[7]

激光非接触式表面粗糙度与位移测量装置 [P].

伏德贵 .

中国专利 :CN2427793Y ,2001-04-25

[8]

表面粗糙度测量 [P].

瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;

帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;

安思文·哈瑞达斯 ;

普尔基特·卡普尔 ;

比拉尔·M·纳塞尔 ;

凯尔文·H·K·陈 .

中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14

[9]

一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P].

程臻君 ;

陈弘毅 ;

张欢 ;

王冉 .

中国专利 :CN215060896U ,2021-12-07

[10]

一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P].

温树彬 ;

郑锦标 ;

张振 ;

陈建立 ;

孙东辰 ;

陈冬梅 .

中国专利 :CN209485249U ,2019-10-11

← 1 2 3 4 5 →