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自动分析装置和分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980004946.6
申请日
:
2019-01-29
公开(公告)号
:
CN111356927A
公开(公告)日
:
2020-06-30
发明(设计)人
:
高仓树
今井健太
萩原孝明
山下善宽
坂诘卓
贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
米夏埃拉·温德富尔
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
丽塔·黑泰斯
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N3502
IPC分类号
:
G01N33543
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
钟晶;陈彦
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-07-24
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 35/02 申请日:20190129
2020-06-30
公开
公开
共 50 条
[1]
自动分析装置和分析方法
[P].
高仓树
论文数:
0
引用数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高仓树
;
今井健太
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
今井健太
;
萩原孝明
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
萩原孝明
;
山下善宽
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山下善宽
;
坂诘卓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
坂诘卓
;
贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
;
米夏埃拉·温德富尔
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
米夏埃拉·温德富尔
;
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
;
丽塔·黑泰斯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
丽塔·黑泰斯
.
日本专利
:CN111356927B
,2024-04-19
[2]
自动分析装置和自动分析方法
[P].
小川亨
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小川亨
.
中国专利
:CN110618284A
,2019-12-27
[3]
自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法
[P].
稻边利幸
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稻边利幸
;
牧野彰久
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牧野彰久
;
足立作一郎
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足立作一郎
;
薮谷千枝
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薮谷千枝
.
中国专利
:CN107923853A
,2018-04-17
[4]
自动分析装置和分析方法
[P].
海老原大介
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
海老原大介
;
松冈晋弥
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
松冈晋弥
;
坂诘卓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
坂诘卓
;
岛崎让
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岛崎让
.
日本专利
:CN110691975B
,2024-02-02
[5]
自动分析装置和分析方法
[P].
吉川惠子
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吉川惠子
;
牧野彰久
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牧野彰久
.
中国专利
:CN107290558B
,2017-10-24
[6]
自动分析装置和分析方法
[P].
海老原大介
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海老原大介
;
松冈晋弥
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松冈晋弥
;
坂诘卓
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坂诘卓
;
岛崎让
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岛崎让
.
中国专利
:CN110691975A
,2020-01-14
[7]
自动分析装置和分析方法
[P].
赤濑弘树
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赤濑弘树
;
饭岛昌彦
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饭岛昌彦
;
薮谷千枝
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薮谷千枝
;
泽田孝宪
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泽田孝宪
;
小西励
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小西励
.
中国专利
:CN110352355B
,2019-10-18
[8]
自动分析装置以及自动分析方法
[P].
远山优衣
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
远山优衣
;
森高通
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
森高通
;
高桥健一
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高桥健一
;
寒河江望
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
寒河江望
;
伊马马·穆加尔
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
伊马马·穆加尔
.
日本专利
:CN120457345A
,2025-08-08
[9]
自动分析装置及其分析方法
[P].
松冈裕哉
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松冈裕哉
;
足立作一郎
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足立作一郎
;
牧野彰久
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牧野彰久
.
中国专利
:CN109690320B
,2019-04-26
[10]
自动分析装置和自动分析装置的控制方法
[P].
小川亨
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
小川亨
.
日本专利
:CN120847424A
,2025-10-28
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