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自动分析装置和分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710587211.3
申请日
:
2013-12-13
公开(公告)号
:
CN107290558B
公开(公告)日
:
2017-10-24
发明(设计)人
:
吉川惠子
牧野彰久
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N3502
IPC分类号
:
G01N3510
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
金鲜英;陈彦
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-15
授权
授权
2017-11-24
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 35/02 申请日:20131213
2017-10-24
公开
公开
共 50 条
[1]
自动分析装置和自动分析方法
[P].
小川亨
论文数:
0
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0
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小川亨
.
中国专利
:CN110618284A
,2019-12-27
[2]
自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法
[P].
稻边利幸
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稻边利幸
;
牧野彰久
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牧野彰久
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足立作一郎
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足立作一郎
;
薮谷千枝
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薮谷千枝
.
中国专利
:CN107923853A
,2018-04-17
[3]
自动分析装置和分析方法
[P].
海老原大介
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
海老原大介
;
松冈晋弥
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
松冈晋弥
;
坂诘卓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
坂诘卓
;
岛崎让
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
岛崎让
.
日本专利
:CN110691975B
,2024-02-02
[4]
自动分析装置和分析方法
[P].
高仓树
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高仓树
;
今井健太
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
今井健太
;
萩原孝明
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
萩原孝明
;
山下善宽
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山下善宽
;
坂诘卓
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
坂诘卓
;
贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
;
米夏埃拉·温德富尔
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
米夏埃拉·温德富尔
;
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
;
丽塔·黑泰斯
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
丽塔·黑泰斯
.
日本专利
:CN111356927B
,2024-04-19
[5]
自动分析装置和分析方法
[P].
海老原大介
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海老原大介
;
松冈晋弥
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松冈晋弥
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坂诘卓
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坂诘卓
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岛崎让
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岛崎让
.
中国专利
:CN110691975A
,2020-01-14
[6]
自动分析装置和分析方法
[P].
高仓树
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高仓树
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今井健太
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今井健太
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萩原孝明
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萩原孝明
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山下善宽
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山下善宽
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坂诘卓
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坂诘卓
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贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
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贝亚图斯·奥芬洛赫-亨勒
;
米夏埃拉·温德富尔
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米夏埃拉·温德富尔
;
乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
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乌尔苏拉·保塞柳斯-富克斯
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丽塔·黑泰斯
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丽塔·黑泰斯
.
中国专利
:CN111356927A
,2020-06-30
[7]
自动分析装置和分析方法
[P].
赤濑弘树
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赤濑弘树
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饭岛昌彦
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饭岛昌彦
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薮谷千枝
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薮谷千枝
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泽田孝宪
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泽田孝宪
;
小西励
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小西励
.
中国专利
:CN110352355B
,2019-10-18
[8]
自动分析装置和自动分析装置的控制方法
[P].
小川亨
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
小川亨
.
日本专利
:CN120847424A
,2025-10-28
[9]
自动分析装置和自动分析装置的控制方法
[P].
小岛和茂
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小岛和茂
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中山佳之
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中山佳之
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中山真人
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中山真人
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丰田有洋
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丰田有洋
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杉村洋央
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杉村洋央
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五十岚雄太
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五十岚雄太
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福本泰弘
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福本泰弘
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朝仓诚
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朝仓诚
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中国专利
:CN112014583A
,2020-12-01
[10]
自动分析装置和自动分析装置的控制方法
[P].
信木俊一郎
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信木俊一郎
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滨崎孝伸
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滨崎孝伸
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坂诘卓
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坂诘卓
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山下善宽
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山下善宽
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田上英嗣
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田上英嗣
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高仓树
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高仓树
.
中国专利
:CN111373267A
,2020-07-03
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