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一种集成电路测试分选机的分粒设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111044553.3
申请日
:
2021-09-07
公开(公告)号
:
CN113843136A
公开(公告)日
:
2021-12-28
发明(设计)人
:
谢飞
申请人
:
申请人地址
:
312000 浙江省绍兴市新昌县七星一路鼓山公园西侧(科技馆)
IPC主分类号
:
B07B108
IPC分类号
:
B07B128
B07B142
B07B146
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B07B 1/08 申请日:20210907
2021-12-28
公开
公开
共 50 条
[1]
一种集成电路测试分选机的分粒机构
[P].
刘芳婷
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘芳婷
.
中国专利
:CN207866984U
,2018-09-14
[2]
一种集成电路测试分选机的分粒机构
[P].
王桂花
论文数:
0
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0
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0
王桂花
.
中国专利
:CN110961379A
,2020-04-07
[3]
一种集成电路测试分选机的分粒机构
[P].
韩笑
论文数:
0
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0
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0
韩笑
.
中国专利
:CN202037129U
,2011-11-16
[4]
一种集成电路测试分选机的分粒结构
[P].
韩笑
论文数:
0
引用数:
0
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0
韩笑
.
中国专利
:CN102259099A
,2011-11-30
[5]
集成电路测试分选机
[P].
班华
论文数:
0
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班华
;
王晓军
论文数:
0
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王晓军
;
陈涛
论文数:
0
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陈涛
.
中国专利
:CN2788907Y
,2006-06-21
[6]
一种具有分粒收料机构的集成电路测试分选机
[P].
吴龙军
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机构:
徐州领测半导体科技有限公司
徐州领测半导体科技有限公司
吴龙军
;
梁天宇
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机构:
徐州领测半导体科技有限公司
徐州领测半导体科技有限公司
梁天宇
;
钦礼辉
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机构:
徐州领测半导体科技有限公司
徐州领测半导体科技有限公司
钦礼辉
;
史伟
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机构:
徐州领测半导体科技有限公司
徐州领测半导体科技有限公司
史伟
.
中国专利
:CN118253492A
,2024-06-28
[7]
一种集成电路测试分选机
[P].
柯武生
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柯武生
;
王桂桂
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王桂桂
;
黄崇城
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黄崇城
;
张进国
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0
张进国
.
中国专利
:CN211989793U
,2020-11-24
[8]
一种集成电路测试分选机
[P].
洪彬玉
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0
洪彬玉
.
中国专利
:CN208527376U
,2019-02-22
[9]
一种集成电路测试分选机
[P].
陈少宽
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陈少宽
;
曾建阳
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曾建阳
;
曾振崇
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曾振崇
.
中国专利
:CN208574974U
,2019-03-05
[10]
一种集成电路测试分选机
[P].
朱远
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
朱远
;
郑刚
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
郑刚
;
孙赫然
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机构:
北京旺达世嘉科技发展有限公司
北京旺达世嘉科技发展有限公司
孙赫然
.
中国专利
:CN222394776U
,2025-01-24
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