一种集成电路测试分选机的分粒设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111044553.3
申请日
2021-09-07
公开(公告)号
CN113843136A
公开(公告)日
2021-12-28
发明(设计)人
谢飞
申请人
申请人地址
312000 浙江省绍兴市新昌县七星一路鼓山公园西侧(科技馆)
IPC主分类号
B07B108
IPC分类号
B07B128 B07B142 B07B146
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P]. 
刘芳婷 .
中国专利 :CN207866984U ,2018-09-14
[2]
一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P]. 
王桂花 .
中国专利 :CN110961379A ,2020-04-07
[3]
一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P]. 
韩笑 .
中国专利 :CN202037129U ,2011-11-16
[4]
一种集成电路测试分选机的分粒结构 [P]. 
韩笑 .
中国专利 :CN102259099A ,2011-11-30
[5]
集成电路测试分选机 [P]. 
班华 ;
王晓军 ;
陈涛 .
中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21
[6]
一种具有分粒收料机构的集成电路测试分选机 [P]. 
吴龙军 ;
梁天宇 ;
钦礼辉 ;
史伟 .
中国专利 :CN118253492A ,2024-06-28
[7]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
柯武生 ;
王桂桂 ;
黄崇城 ;
张进国 .
中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24
[8]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
洪彬玉 .
中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22
[9]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05
[10]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱远 ;
郑刚 ;
孙赫然 .
中国专利 :CN222394776U ,2025-01-24