一种具有分粒收料机构的集成电路测试分选机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410253795.0

申请日：

2024-03-06

公开(公告)号：

CN118253492A

公开(公告)日：

2024-06-28

发明(设计)人：

吴龙军梁天宇钦礼辉史伟

申请人：

徐州领测半导体科技有限公司

申请人地址：

221416 江苏省徐州市新沂市锡沂高新区一带一路智慧光电产业园14#标房

IPC主分类号：

B07C5/16

IPC分类号：

B07C5/36 B07C5/02

代理机构：

南京业腾知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32321

代理人：

白玉娟

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-28	公开	公开
2024-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/16申请日:20240306
2025-12-12	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):B07C 5/16申请公布日:20240628

共 50 条

[1]

一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P].

刘芳婷 .

中国专利 :CN207866984U ,2018-09-14

[2]

一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P].

王桂花 .

中国专利 :CN110961379A ,2020-04-07

[3]

一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P].

韩笑 .

中国专利 :CN202037129U ,2011-11-16

[4]

一种集成电路测试分选机的分粒设备 [P].

谢飞 .

中国专利 :CN113843136A ,2021-12-28

[5]

一种集成电路测试分选机的分粒结构 [P].

韩笑 .

中国专利 :CN102259099A ,2011-11-30

[6]

集成电路测试分选机送料分粒装置及控制方法 [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN112642737A ,2021-04-13

[7]

集成电路测试分选机 [P].

班华 ;

王晓军 ;

陈涛 .

中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21

[8]

一种集成电路测试分选机 [P].

柯武生 ;

王桂桂 ;

黄崇城 ;

张进国 .

中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24

[9]

一种集成电路测试分选机 [P].

洪彬玉 .

中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22

[10]

一种集成电路测试分选机 [P].

陈少宽 ;

曾建阳 ;

曾振崇 .

中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05

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