一种降低外导体接触电阻的射频测试头

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821221649.6

申请日：

2018-07-31

公开(公告)号：

CN208568865U

公开(公告)日：

2019-03-01

发明(设计)人：

彭书谦

申请人：

申请人地址：

201508 上海市金山区山阳镇华山路3012号8幢五层

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

上海精晟知识产权代理有限公司 31253

代理人：

吴庆

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构 [P].

黄鑫 ;

傅依常 ;

傅玉荣 .

中国专利 :CN210109162U ,2020-02-21

[2]

具有新型外导体接触头固定结构的射频测试头 [P].

傅依常 ;

黄鑫 .

中国专利 :CN208537592U ,2019-02-22

[3]

一种降低接触电阻的连接结构 [P].

蒋正虎 ;

阿发智 ;

施宏宝 ;

段新杏 ;

李延龙 ;

余晶晶 ;

杨尚玉 ;

张晓龙 ;

陈振宇 ;

蒋绍康 ;

熊鸿楗 ;

宫贺 ;

李显 ;

寸杰宏 ;

朱晓伟 ;

段建成 .

中国专利 :CN211507922U ,2020-09-15

[4]

用于触头的接触电阻降低装置 [P].

于重阳 ;

裴志超 ;

李白 ;

胡佳奇 ;

缪苇航 ;

春青 ;

孟显龙 .

中国专利 :CN221200968U ,2024-06-21

[5]

一种接触电阻的测试结构 [P].

刘英明 .

中国专利 :CN204102867U ,2015-01-14

[6]

一种接触电阻测试设备 [P].

张建峰 ;

朱明 ;

江震 ;

陆建 .

中国专利 :CN214703781U ,2021-11-12

[7]

一种接触电阻测试系统 [P].

韩治昀 ;

魏科科 ;

付宇 .

中国专利 :CN217112507U ,2022-08-02

[8]

一种接触电阻测试机 [P].

朱四辈 ;

王瑞 ;

韩梦媛 ;

仇相文 ;

王雯 ;

杜祥云 .

中国专利 :CN214669323U ,2021-11-09

[9]

一种接触电阻测试夹 [P].

豆河伟 ;

侯玉国 .

中国专利 :CN211741350U ,2020-10-23

[10]

一种接触电阻测试结构 [P].

李勇 .

中国专利 :CN206258520U ,2017-06-16

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