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一种极低温度下材料半球发射率测试装置与方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010645849.X
申请日
:
2020-07-07
公开(公告)号
:
CN113916931A
公开(公告)日
:
2022-01-11
发明(设计)人
:
章俞之
吴岭南
马佳玉
宋力昕
申请人
:
申请人地址
:
200050 上海市长宁区定西路1295号
IPC主分类号
:
G01N2520
IPC分类号
:
代理机构
:
上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261
代理人
:
曹芳玲;姚佳雯
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-11
公开
公开
2022-01-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20200707
共 50 条
[1]
材料低温半球发射率的测试系统
[P].
张思懿
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张思懿
;
沈福至
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沈福至
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李永
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李永
;
王维
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王维
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刘辉明
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刘辉明
;
黄荣进
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黄荣进
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李来风
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李来风
.
中国专利
:CN213544448U
,2021-06-25
[2]
材料低温半球发射率的测试系统及方法
[P].
张思懿
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张思懿
;
沈福至
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沈福至
;
李永
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李永
;
王维
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王维
;
刘辉明
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刘辉明
;
黄荣进
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黄荣进
;
李来风
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李来风
.
中国专利
:CN114486981A
,2022-05-13
[3]
材料低温半球发射率的测试系统及方法
[P].
张思懿
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机构:
中国科学院理化技术研究所
中国科学院理化技术研究所
张思懿
;
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机构:
沈福至
;
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机构:
李永
;
王维
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机构:
中国科学院理化技术研究所
中国科学院理化技术研究所
王维
;
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机构:
刘辉明
;
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机构:
黄荣进
;
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机构:
李来风
.
中国专利
:CN114486981B
,2024-10-25
[4]
一种高温发射率测试装置
[P].
马尚忠
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马尚忠
;
鲁继浩
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鲁继浩
;
罗欣
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罗欣
;
毛成
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毛成
.
中国专利
:CN216926664U
,2022-07-08
[5]
一种中高温红外发射率测试装置
[P].
刘志敏
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刘志敏
;
曹鸿涛
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曹鸿涛
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梁凌燕
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梁凌燕
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张公军
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张公军
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许高杰
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许高杰
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李勇
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李勇
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卢焕明
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卢焕明
.
中国专利
:CN202994636U
,2013-06-12
[6]
一种中高温红外发射率测试装置
[P].
刘志敏
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刘志敏
;
曹鸿涛
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曹鸿涛
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梁凌燕
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梁凌燕
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张公军
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张公军
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许高杰
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许高杰
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李勇
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李勇
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卢焕明
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卢焕明
.
中国专利
:CN102830064B
,2012-12-19
[7]
粉体材料红外发射率测试装置
[P].
王猛
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王猛
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丁燕
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丁燕
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刘承喆
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刘承喆
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刘奇
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刘奇
;
常平平
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常平平
.
中国专利
:CN204064985U
,2014-12-31
[8]
一种红外发射率测试装置
[P].
王玄玉
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王玄玉
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董文杰
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董文杰
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刘志龙
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刘志龙
;
姚伟召
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姚伟召
.
中国专利
:CN113984706A
,2022-01-28
[9]
一种红外发射率测试装置
[P].
王玄玉
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王玄玉
;
董文杰
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董文杰
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刘志龙
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刘志龙
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姚伟召
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姚伟召
.
中国专利
:CN216247693U
,2022-04-08
[10]
滑台式发射率测试装置
[P].
李文军
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李文军
;
王潇楠
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王潇楠
.
中国专利
:CN108362385A
,2018-08-03
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