一种极低温度下材料半球发射率测试装置与方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010645849.X
申请日
2020-07-07
公开(公告)号
CN113916931A
公开(公告)日
2022-01-11
发明(设计)人
章俞之 吴岭南 马佳玉 宋力昕
申请人
申请人地址
200050 上海市长宁区定西路1295号
IPC主分类号
G01N2520
IPC分类号
代理机构
上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261
代理人
曹芳玲;姚佳雯
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
材料低温半球发射率的测试系统 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN213544448U ,2021-06-25
[2]
材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN114486981A ,2022-05-13
[3]
材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P]. 
张思懿 ;
沈福至 ;
李永 ;
王维 ;
刘辉明 ;
黄荣进 ;
李来风 .
中国专利 :CN114486981B ,2024-10-25
[4]
一种高温发射率测试装置 [P]. 
马尚忠 ;
鲁继浩 ;
罗欣 ;
毛成 .
中国专利 :CN216926664U ,2022-07-08
[5]
一种中高温红外发射率测试装置 [P]. 
刘志敏 ;
曹鸿涛 ;
梁凌燕 ;
张公军 ;
许高杰 ;
李勇 ;
卢焕明 .
中国专利 :CN202994636U ,2013-06-12
[6]
一种中高温红外发射率测试装置 [P]. 
刘志敏 ;
曹鸿涛 ;
梁凌燕 ;
张公军 ;
许高杰 ;
李勇 ;
卢焕明 .
中国专利 :CN102830064B ,2012-12-19
[7]
粉体材料红外发射率测试装置 [P]. 
王猛 ;
丁燕 ;
刘承喆 ;
刘奇 ;
常平平 .
中国专利 :CN204064985U ,2014-12-31
[8]
一种红外发射率测试装置 [P]. 
王玄玉 ;
董文杰 ;
刘志龙 ;
姚伟召 .
中国专利 :CN113984706A ,2022-01-28
[9]
一种红外发射率测试装置 [P]. 
王玄玉 ;
董文杰 ;
刘志龙 ;
姚伟召 .
中国专利 :CN216247693U ,2022-04-08
[10]
滑台式发射率测试装置 [P]. 
李文军 ;
王潇楠 .
中国专利 :CN108362385A ,2018-08-03