材料低温半球发射率的测试系统及方法

被引：0

申请号：

CN202011147230.2

申请日：

2020-10-23

公开(公告)号：

CN114486981A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

张思懿沈福至李永王维刘辉明黄荣进李来风

申请人：

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村东路29号

IPC主分类号：

G01N2500

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

李文丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/00 申请日:20201023
2022-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

材料低温半球发射率的测试系统及方法 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN114486981B ,2024-10-25

[2]

材料低温半球发射率的测试系统 [P].

张思懿 ;

沈福至 ;

李永 ;

王维 ;

刘辉明 ;

黄荣进 ;

李来风 .

中国专利 :CN213544448U ,2021-06-25

[3]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试方法及测试系统 [P].

吴宪 ;

王阳 ;

原涛 ;

张悦 ;

张蕾 ;

彭广瑞 ;

周金帅 ;

李想 ;

张丽娟 .

中国专利 :CN119861107A ,2025-04-22

[4]

一种极低温度下材料半球发射率测试装置与方法 [P].

章俞之 ;

吴岭南 ;

马佳玉 ;

宋力昕 .

中国专利 :CN113916931A ,2022-01-11

[5]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

张蕾 ;

周金帅 ;

王阳 ;

张丽娟 ;

李想 .

中国专利 :CN121007926A ,2025-11-25

[6]

基于热辐射效应的低温方向发射率测试系统 [P].

吴宪 ;

张丽娟 ;

王阳 ;

张悦 ;

原涛 ;

彭广瑞 ;

周金帅 ;

张蕾 ;

李想 .

中国专利 :CN119861105A ,2025-04-22

[7]

辐射计法半球发射率测试仪 [P].

冀中祥 ;

李攀 ;

温静馨 .

中国专利 :CN106770434A ,2017-05-31

[8]

电控隔热屏当量发射率测试系统及方法 [P].

胡明亮 ;

陈菡 ;

翟载腾 ;

陆江峰 ;

刘荣辉 ;

腊栋 .

中国专利 :CN104374798A ,2015-02-25

[9]

基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统 [P].

符泰然 ;

段明皓 ;

宗安州 .

中国专利 :CN103196840B ,2013-07-10

[10]

粉体材料红外发射率的测试装置及其测试方法 [P].

梁金生 ;

甘琨 ;

孟军平 ;

丁燕 .

中国专利 :CN101762619A ,2010-06-30

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